光学轮廓测量仪 WLICyl

3D白光干涉用于控制

应用 WLICyl * 白光干涉仪/WLI探头用于实验室和车间的质量控制。 * 缸孔 * 衬垫 规格 非接触式三维表面轮廓仪 * 可与转接板或用于底架的可变三爪卡盘结合使用，60-150。 WUCyl是一种基于白光干涉原理的高精度光学轮廓仪，设计用于后处理和统计过程控制。测量头可以手动移动，也可以通过在软件中输入坐标。 基架60-150的转接板或可变三爪卡盘确保了WUCyl在被测物上的定位参考，以便重复测量。无限的测量程序可以被保存和自动化。这种设计允许在进行摩擦学测试前后，在完全相同的位置进行比较。 WUCyl属于Breitmeier Messtechnik GmbH的产品系列。自2001年以来，该公司一直在德国设计、开发和制造最先进的测量设备和系统。