光学千分尺

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激光千分尺
激光千分尺
optoCONTROL 2520

测量容量: 46 mm - 46 mm
解析度: 1 µm - 1 µm

... 光电控制 2520 是一款带集成控制器的紧凑型激光微分仪。 高分辨率、46 mm 的测量范围和可变距离允许在质量控制和生产控制领域进行大量应用。 测量对象可放置在光幕内的任意位置,并可自由选择发射机和接收机之间的距离。 可用的接口是以太网/以太网和 RS422。 用户友好的 Web 界面用于执行设置和配置,并提供一种方便的显示测量值和极限值的方法,包括各种测量程序和过滤方法。 视频信号图用于轻松对准和设置测量。 ...

光学千分尺
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optoCONTROL 2600

测量容量: 40 mm - 40 mm
解析度: 0.1 µm - 0.1 µm

光电控制 2600 型号是由微埃普西隆开发的高速 LED 微分仪。 它主要用于几何测量。 该装置配备集成的高分辨率 CCD 相机,针对玻璃和透明塑料的测量,以及出色的精度。 该系统还配备了 40 mm 的测量范围、3 µm 的最大线性度、0.1μm 的最大分辨率和 2.3 kHz 高的测量速率。 此外,由于 LED 技术和缺少机械部件,该框架使用寿命极长。

激光千分尺
激光千分尺
optoCONTROL 1200

测量容量: 2 mm - 30 mm
解析度: 10 µm - 150 µm

... 光电控制 1200 是一款由微埃普西隆设计的激光微分仪。 它适用于高动态应用,测量速率为 100 kHz。 该装置采用紧凑型设计,提供各种安装选项。 其测量范围为 2 毫米至 30。 该微米的最大线性度为 0.04 毫米,分辨率为 10 µm。 它具有极限开关功能,最大开关频率为 25 kHz。 该器件是一种低成本的型号,无需使用控制器即可运行。 ...

光学千分尺
光学千分尺
LS-9000 series

在抗振动、倾斜等各种情况下发挥卓越的处理能力 高精度测微计,16000/秒的高速采样,配置特殊监控CMOS,产品倾斜也能实现高速高精度测量。最大光幕宽度120mm 在工件振动的环境下也可准确测量 具备超快的采样速度,即使目标物振动也可确实拍摄,进行准确测量。 倾斜工件也可稳定测量 由于内置可识别目标物倾斜的监控CMOS,因此能根据角度自动补正测量值,进行准确测量。 可在现场稳定长期使用,因此能削减维护工时 采用优异光学系统,除了没有驱动部分以外,还可实现各种耐环境设定。 可支持各种需求的测量头产品阵容 新增2轴型和大直径型的测量头

光学千分尺
光学千分尺
TM-3000 series

测量容量: 6, 40, 65 mm

二维高速投影尺寸测量仪 TM-3000 系列 特性 可同时测量多点的外径、高度差,因此可缩短单件产品生产时间。 可从获取的投影中同时测量最多16个部位的尺寸。 移动目标物也可无偏差测量 既是投影仪,又具备高速采样和位置补正功能,让在线测量更稳定。 可在现场稳定长期使用,因此可削减维护工时。 采用基恩士优异的光学设计,免除了驱动部分,且不会产生因浪涌噪声导致的劣化。

LED千分尺
LED千分尺
LS-9000 series

测量容量: 40 µm - 30,000 µm

超高速度、高精度数字测微计 LS-9000 系列 在现场旁边设置“离线测量”设备进行“在线测置” 在抗振动、倾斜等任何情况下 发挥优秀的处理能力 特性 在工件振动的环境下也可准确测量 具备超快的采样速度,即使目标物振动也可确实拍摄,进行准确测量。 倾斜工件也可稳定测量 由于内置可识别目标物倾斜的监控CMOS,因此能根据角度自动补正测量值,进行准确测量。 可在现场稳定长期使用,因此能削减维护工时 采用优异光学系统,除了没有驱动部分以外,还可实现各种耐环境设定。

激光千分尺
激光千分尺
LS-7000 series

测量容量: 40 µm - 65,000 µm

高速,高精度CCD测量仪器 LS-7000 系列 高速,高精度CCD测量仪器 LS-7000 系列

光学千分尺
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966

测量容量: 0.26, 0.66 in

... 光学测微仪能够在任何表面上进行非接触测量,无论是弯曲的还是平坦的。 这种仪器对于测量划痕、裂缝、裂纹、嵌入空隙的深度和透明材料(如玻璃、丙烯酸)的厚度非常有用。它还可以测量划痕、裂缝、腐蚀、坑洞、瑕疵、小凹痕和其他缺陷。 使用966A型的可选视网膜目镜,可以进行高达0.040英寸的宽度测量。 这种便携式仪器是现场应用的理想选择,如挡风玻璃、前缘、机身、机身皮肤、螺旋桨叶片、转子叶片、涡轮叶片、涂层表面,以及更多。 描述 光学测微仪设计有一个坚固的外壳和易于阅读的游标刻度。 ...

激光千分尺
激光千分尺
RF651

测量容量: 100, 75, 50, 25 mm

... RF65X 系列是一种用于非接触式测量和控制技术物体的位置和尺寸的光学微米。 该系列测量电线、棒和其他气缸的直径。 该系列的操作基于阴影原理。 该系列由两个块发射器和一个接收器组成。 半导体激光器通过镜头进行准确化。 将对象放置在正确的光束区域中时,将形成阴影图像。 使用 CMOS 光探测器阵列进行扫描。 在从阴影边框计算对象的位置大小时,它使用处理器。 RF651 系列是直接通过光束微米。 RF 651 系列 直通光束微米 发射机和接收机之间的长距离 ...

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RIFTEK
厚度千分尺
厚度千分尺
OptiMike™ OM190

... 高性能、易于使用的在线直接厚度测量 OptiMike™ OM190 光学微米计可对非金属薄膜和厚膜产品进行精确的阴影厚度测量。 • 智能、非接触式测量 — 具有亚微米精度的先进光学厚度测量 • 灵活-不受产品颜色、密度或光泽度的影响 • 易于使用-切换产品时不需要校准 • 非核技术-不需要特殊的许可或保护防护罩 • 间隙变化或滚动跳出的动态补偿 —— 传感技术可补偿测量间隙距离的任何变化;精密参考辊具有较低的跳出特性,可实现精确绝对的测量性能 • 专为最低的成本而设计所有权 ...

台式千分尺
台式千分尺
MF-501

测量容量: 50 mm

... MF-501 是一款紧凑型数字微分仪,可在尺寸、厚度和深度方面提供无瑕的接触测量。 它的测量长度等于 50 毫米,在 20° C 时精度为 1 µm。支架采用陶瓷、钢或花岗岩制成,可增加稳定性,并且有多种探头可供选择,适合大多数应用。 应用 表面分析 ...

光学千分尺
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... 我们的测微仪接口可用于单元内的所有压力机或单个压力机。它被集成到系统中,所有的测量都被收集起来用于分析和验证目的。它很容易使用,有一个简单的菜单,对每一个要进行的测量都有清晰的说明。 ...

激光千分尺
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AN-21SM

测量容量: 25 mm - 100 mm

... 光学微分仪 AN-21SM 可以在高精度模式下测量几何参数和物体位置, 测量物体横截面的几何尺寸和平均直径等。在高精度模式下,测量物体横截面的几何尺寸和平均直径,控制和成品零件故障排除,控制细节而不拆卸。 微米是指 1 类激光产品,所以绝对安全。 规格 光学微米表 AN-21SM 光源 波长 660 nm 激光类 1 级激光产品 输出 10 mW 一 般信息 测量范围, Z 轴 (高度) 25.. 100 毫米 线性度, Z 轴 (高度) 3 微米 测量 频率 ...

光学千分尺
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HWS.1 - Handy Wire Scanner

... 世界上第一,真正的非接触式,手持光学微米,用于检查电线,电缆和其他类似的产品。 Handy Wire Scanner 是一款完全便携式光学显微仪,用于非接触式测量电线、电缆和其他类似产品。 Aeroel 采用 LED 和 CCD 技术开发,采用 2 个交叉线性传感器自动补偿定位误差(专利申请)。 由于采用强大的单芯片微处理器,无论电线的精确定位如何,微米表均可实现线性化和补偿,以获得整个测量领域的最高精度。 测量是通过按下触发开始的,只需几秒钟,显示屏为操作员提供交互式信息,将导线放置在有用的测量区域,并显示测量结果。 ...

光学千分尺
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VEA光学测微仪有270多种型号,是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上,而不会有精度损失的风险,因为它们有一个简化的校准系统,使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商,通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量,其精度与计量实验室中的测量精度相同(20°±1°)。 • ...

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