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测量容量: 10 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... 满足最高要求的高性能千分尺 optoCONTROL 2700 是一款结构紧凑的 LED 千分尺，用于精确测量直径、间隙、边缘和区段。该千分尺具有极高的精度和测量速率。由于控制器集成在接收器中，因此可将布线和安装工作减至最少。 两种型号的测量范围分别为 10 毫米和 40 毫米，为自动化和质量保证领域开辟了众多应用领域。由于采用了主动倾角校正功能，倾斜度达 45° 的物体也能被极为精确地检测到。配置可通过网络界面方便地进行，并可对视频信号、滤波器和各种测量模式进行参数设置。在设置模式下，可使用阴影图像对测量对象进行简单校准 ...
测量容量: 10 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... 产品概述
profileGAUGE C.ODC 是一款预装配的高精度传感器系统，用于超细线材及小型圆形工件的双轴在线轮廓、外径与位置测量。两个 optoCONTROL ODC2700 光学千分尺以 X 型布置同时对目标的两个轴进行测量，在高速生产工艺下仍能可靠获取直径、轮廓与位置数据。
功能与集成
系统可提供高达 5 kHz 的测量输出频率。来自两轴的统计计算与后处理可由机控系统或上位评估系统完成。通过工业以太网接口并支持标准协议（TCP、UDP、FTP），可便捷集成到现有自动化与质量管理流程中。
主要特点
- 双轴精确测量直径、轮廓与位置
- 即插即用：预组装、校准并布线
- 支持同步与异步工作模式
- 支持通过
测量容量: 0.04 mm - 30 mm
... 在抗振动、倾斜等各种情况下发挥卓越的处理能力 在现场旁边设置“离线测量”设备进行“在线测量” LS-9000 系列超高速/高精度光测微计配备“高速曝光 CMOS”和“高亮度绿色 LED”，采样速度可达16000 次 / 秒，通过自主研发的光学设计，在维持高亮度的同时，成功产生了平行的穿透光，实现了无驱动结构，因而能在长期使用过程中维持测量精度。其高速、高精度与高耐久度的特点，使其可在各类环境中实现稳定的在线及离线测量，且不易受目标物材质限制。利用“高速曝光 ...
Keyence
... 概述
OptiMike光学测厚仪为非金属片材与厚膜产品在在线卷材工艺中提供直接、单面、非接触的厚度测量。光学测量不受产品颜色、密度、光泽或透明度影响。
LED阵列向置于低偏心精密参考辊上的产品顶点投射光束；对侧CCD微米计阵列检测光束中断点（上表面），实现亚微米分辨率。内置涡流传感器测量传感器至辊面的距离，CCD与涡流数据融合以在线计算绝对总厚度并用于工艺控制。
主要特点
- 非接触、单面厚度测量，适用于在线卷材应用
测量容量: 0.01 mm - 30 mm
... 在抗振动、倾斜等各种情况下发挥卓越的处理能力 高精度测微计，16000/秒的高速采样，配置特殊监控CMOS，产品倾斜也能实现高速高精度测量。最大光幕宽度120mm 在工件振动的环境下也可准确测量 具备超快的采样速度，即使目标物振动也可确实拍摄，进行准确测量。 倾斜工件也可稳定测量 由于内置可识别目标物倾斜的监控CMOS，因此能根据角度自动补正测量值，进行准确测量。 可在现场稳定长期使用，因此能削减维护工时 采用优异光学系统，除了没有驱动部分以外，还可实现各种耐环境设定。 可支持各种需求的测量头产品阵容 新增2轴型和大直径型的测量头 ...
测量容量: 25 mm - 100 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657R.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 8 mm - 40 mm
解析度: 1.5 µm - 4.5 µm
... 二维光学千分尺 RF657.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 5 mm - 100 mm
... 气刀窗口保护 千分尺用于非接触式测量和检查物体的直径、间隙、位移和边缘位置。 -应用领域 精确测量、同步应用、快速测量过程、用于狭小安装空间的微型产品。 -测量原理 测微计的工作原理是所谓的 "影子 "原理。测微计由发射器1和接收器2两部分组成。 LED 3的辐射由透镜4准直。将物体5置于准直光束区域内，CCD光电探测器阵列6扫描形成的阴影图像。处理器7根据阴影边界的位置计算物体的位置（大小）。 ...
... 应用领域 激光显微仪设计用于非接触式测量和控制技术物体的位置和尺寸（直径、厚度、间隙），以及测量液体和散装材料的水平。 LCE25 模型。 操作原理 微米操作基于所谓的 “阴影” 原则。 该微米由两个块 — 发射器，1 和接收器，2. 半导体激光器的辐射 3 由透镜 4. 与对象, 5 放置在准直光束区域, 形成阴影图像的扫描与 CCD 光探测器阵列 6. 处理器 7 从阴影边框（边框）的位置计算对象的位置（大小） ...