厚度千分尺 OptiMike™

光学非接触型精准

概述
OptiMike光学测厚仪为非金属片材与厚膜产品在在线卷材工艺中提供直接、单面、非接触的厚度测量。光学测量不受产品颜色、密度、光泽或透明度影响。LED阵列向置于低偏心精密参考辊上的产品顶点投射光束；对侧CCD微米计阵列检测光束中断点（上表面），实现亚微米分辨率。内置涡流传感器测量传感器至辊面的距离，CCD与涡流数据融合以在线计算绝对总厚度并用于工艺控制。

主要特点

• 非接触、单面厚度测量，适用于在线卷材应用
• 非核技术（无放射源）
• 不受产品颜色、密度、光泽或透明度影响
• 可与称重传感器结合用于密度计算
• 智能化设计，便于维护与生产线集成

测量原理
传感器使用LED阵列在精密参考辊上的产品顶点投射光束；对侧CCD微米计阵列定位阴影边缘以确定上表面位置，达到亚微米精度。内置涡流传感器测量参考辊距离；系统融合CCD和涡流读数，实时输出绝对厚度以支持过程控制与质量保证。

应用

• 薄膜与片材挤出过程厚度控制
• 发泡片材厚度测量
• 橡胶与塑料制品检测
• 压延片材与涂层卷材的厚度管理
• 非织造布与功能性纺织品的厚度测量
• 钩环类粘合材料检测
• 复合材料与层压板厚度检测
• 烟草产品卷材工艺控制

技术规格

• 测量方法：光学（LED阵列 + CCD微米计）与涡流参考结合
• 测量类型：直接、单面、在线厚度测量（卷材/网状工艺）
• 适用材料：非金属片材、薄膜、发泡材料、非织造布、复合材料等
• 分辨率：上表面检测亚微米级（基于CCD）
• 参考元件：低偏心精密参考辊
• 集成：可与重量传感器及过程控制系统对接
• 仪表类型：非接触、非核光学微米计