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空间分辨率: 0.7, 1, 0.6 nm
... 具有亚纳米分辨率和高材料对比度的纳米材料的扫描电子显微镜表征。 Verios 5 XHR扫描电子显微镜 Verios 5 XHR扫描电子显微镜在整个1 keV到30 keV的能量范围内提供亚纳米级的分辨率，具有出色的材料对比度。前所未有的自动化水平和易用性使任何经验水平的用户都能获得这种性能。 扫描电子显微镜表征 - 使用UC+单色电子源进行高分辨率纳米材料成像，在1-30千伏范围内具有亚纳米级性能。 - 敏感材料上的高对比度，性能优异，降落能量低至20eV，高灵敏度的柱内和透镜下探测器和信号过滤，实现低剂量操作和最佳对比度选择。 - ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
倍率: 6 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 1, 1.3, 3, 0.8 nm
宽度: 340 mm
... 加速科学发现需要强大的数据分析能力。但这也需要多功能性。 在所有 Thermo Scientific 扫描电镜中，Thermo Scientific Quattro ESEM 可以帮助您分析最广泛的样品，并包括三种真空模式，支持放气和非真空兼容样品。它采用环境扫描电镜独有的场发射枪 (FEG)，可提供高分辨率结果。 这项技术可以处理您的任何问题。Quattro ESEM 具有灵活的腔体，可安装多个检测器、用于原位实验的加热和冷却台，并可选配 Thermo Scientific ChemiSEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 0.9, 0.8, 1, 1.2 nm
重量: 5 kg
宽度: 340 mm
... 扫描电子显微镜用于多功能、高性能的材料成像和分析。 先进的材料表征实验室需要获得最新的技术，并将分析工具，包括扫描电子显微镜，推到其能力的极致。这些实验室大多是多用户设施，可容纳具有不同程度经验的用户。在显微镜上的时间是宝贵的，需要避免在维护、校准、培训或图像优化上花费过多时间。 Apreo 2扫描电子显微镜 新的Thermo Scientific Apreo 2 SEM将获得高性能成像和分析的机会扩大到所有级别的显微镜专家。通过Thermo Scientific ChemiSEM技术，一种独特的活体元素成像能力，通过最直观的界面，可以随时获得成分信息。消除了与典型EDS实施相关的所有麻烦，ChemiSEM技术提供了前所未有的结果时间和易用性。 Apreo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 0.7 nm - 1.8 nm
重量: 5 kg
宽度: 340 mm
... 可轻松访问带有方便多样品支架的大型平台，以及快速泵下以节省装载样品的时间。所有这些都有助于提高您和您团队的工作效率。 概述 增强的 SEM 成像功能 利用智能框架集成 (SFI) 和自动对准功能等创新功能，将成像结果提升到新的高度。 完整的材料分析 专用的 EDS 和 EBSD 技术使高级分析更容易获得，并使您更容易更好地了解材料。 探测器种类齐全 不折不扣地获得准确结果，并利用出色的分辨率和信号转换选项。 满足您的最大需求 Apreo ChemiSEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 1,030, 515 nm
... 因此可以轻松处理具有挑战性的材料，如非导电或对离子束敏感的样品。 飞秒激光脉冲的持续时间极短，几乎不会产生热冲击、微裂纹、熔化等假象，也不会产生传统机械抛光的典型假象。在大多数情况下，激光研磨后的表面非常干净，足以直接进行扫描电子显微镜成像，甚至可用于电子反向散射衍射 ( EBSD) 制图等表面敏感技术。 我们为透射电子显微镜 (TEM) 样品制备、原子探针断层扫描 (APT) 样品制备和三维结构分析等应用提供广泛的产品组合和先进的自动化能力。 透射电子显微镜和原子探针断层扫描样品制备 这些仪器基于久经考验的 ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 0.7, 1.2, 1.4 nm
重量: 5 kg
... 多功能 FIB-SEM，具有高通量性能和先进的自动化功能 Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM 是一款先进的超高分辨率分析型离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)。它能为各种样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和三维表征。Scios 3 FIB-SEM 在设计上采用了创新功能，提高了吞吐量、可靠性和易用性，是科学家和工程师在不同环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。 Scios 3 FIB-SEM 与全套自动化软件应用程序相结合，可为最常见的使用情况提供便利。这种用户友好型创新解决方案大大提高了工作效率，对工业界和学术界的用户都很有价值。 特点 自动横截面分析 Scios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
倍率: 20 unit - 1,000,000 unit
空间分辨率: 4, 1.6, 1.2 nm
... 与最大能获得300nA探针电流的浸没式肖特基电子枪组合，可以进行高分辨率观察和高速分析。FIB镜筒利用最大探针电流为90nA的高电流密度的Ga离子束，对样品进行高速加工。 利用FIB高速截面加工后的高分辨SEM观察和使用EDS ( 能谱仪 ) 及 EBSD ( 晶体取向分析系统 ) 等各种分析装置，可以进行高速分析。 此外还标配了三维分析功能，能以固定的间隔自动进行截面加工并同时获取截面的SEM图像。 主要特点 ...
Jeol
... 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能（适用于 EBSD 测量）以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列，操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM ...
Jeol
倍率: 10 unit - 5,480,000 unit
空间分辨率: 0.7 nm - 3 nm
... JSM-IT800 集成了我们的 "In-lens Schottky Plus 场发射电子枪"（用于从高分辨率成像到快速元素测绘）、创新的电子光学控制系统 "Neo Engine "以及无缝图形用户界面系统 "SEM Center"（用于快速元素测绘）和完全嵌入式 JEOL 能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)，作为一个通用平台。 JSM-IT800 允许以模块形式更换扫描电镜的物镜，提供不同版本以满足不同用户的要求。JSM-IT800 共有五种不同物镜的版本：混合透镜版本（HL），是一种通用的 ...
Jeol
倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4, 7, 3 nm
重量: 480 kg
... SEM 探测器 标准： Everhart-Thornley 探测器 (ETD) 可选： 可伸缩式背散射电子探测器 (BSED) 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 ( EBSD) -可选 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 -用户界面 操作系统： Windows 导航： 光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能： 自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK ...
CIQTEK Co., Ltd.
倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.8 nm - 1.3 nm
重量: 950 kg
... BSED) 可伸缩扫描透射电子显微镜（STEM） 低真空探测器（LVD） 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图谱（ EBSD） 试样交换负载锁（4 英寸 /8 英寸） 轨迹球和旋钮控制面板 -软件 语言：英语 操作系统：Windows 导航：光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能：自动亮度和对比度、 ...
CIQTEK Co., Ltd.
倍率: 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.9 nm - 2.5 nm
... 电子背散射衍射图样 ( EBSD) 试样交换负载锁（4 英寸/8 英寸） 轨迹球和旋钮控制面板 - 用户界面 导航：光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM4000Pro 是一款分析型 FE-SEM 型号，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。其三级电磁透镜设计在 EDS / EDX、 EBSD、WDS ...
CIQTEK Co., Ltd.
倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4.5, 3.9 nm
... 范围：50 毫米50 毫米 SEM 检测器 标准：埃弗哈特-桑利探测器 (ETD) 可选：可伸缩式背散射电子探测器 (BSED) 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 ( EBSD) 可选项 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 用户界面 操作系统视窗 导航光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM2100 扫描电镜简化了操作流程，其 ...
CIQTEK Co., Ltd.
倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.6 nm - 1 nm
重量: 400 kg
... 可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM） 低真空探测器（LVD） 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 ( EBSD) 试样交换负载锁（4 英寸/8 英寸） 轨迹球和旋钮控制面板 双分辨模式（Duo-Dec） CIQTEK ...
CIQTEK Co., Ltd.
空间分辨率: 3, 0.9, 1.6 nm
... 可选： - 可伸缩式背散射电子探测器（BSED） 可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM） 能量色散光谱仪（EDS/EDX） 电子背散射衍射图样 ( EBSD) 纳米机械手 气体注入系统 等离子清洗器 试样交换负载锁 ...
CIQTEK Co., Ltd.
倍率: 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 1.2, 1.9 nm
... BSED) 可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM） 低真空探测器（LVD） 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 ( EBSD) 试样交换负载锁（4 英寸/8 英寸） 轨迹球和旋钮控制面板 超光束减速模式技术 CIQTEK SEM4000X 是一款稳定、多功能、灵活、高效的 ...
CIQTEK Co., Ltd.