FIB/SEM显微镜 Scios 3

用于分析质量控制用于研究

多功能 FIB-SEM，具有高通量性能和先进的自动化功能 Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM 是一款先进的超高分辨率分析型离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)。它能为各种样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和三维表征。Scios 3 FIB-SEM 在设计上采用了创新功能，提高了吞吐量、可靠性和易用性，是科学家和工程师在不同环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。 Scios 3 FIB-SEM 与全套自动化软件应用程序相结合，可为最常见的使用情况提供便利。这种用户友好型创新解决方案大大提高了工作效率，对工业界和学术界的用户都很有价值。 特点 自动横截面分析 Scios 3 FIB-SEM 提供用于横截面分析的自动化应用，可通过精确定位实现高质量的地下表征。它简化了工作流程，减少了用户干预，并确保在高通量环境下获得一致、高质量的结果。 高通量分析三维表征 用于 Scios 3 FIB-SEM 的 Thermo Scientific Auto Slice & View 5 软件可为高通量三维分析提供自动序列切片。无缝集成实现了多模式数据采集，包括 SEM 成像、成分、微结构和晶体学信息。 自动化、高质量、特定部位 (S)TEM 样品制备 Scios 3 FIB-SEM 能够快速、轻松地制备高质量、特定部位 (S)TEM 样品。