电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜 Scios 2

用于分析用于研究计量学

聚焦离子束扫描电子显微镜用于超高分辨率、高质量的样品制备和三维表征。 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一种超高分辨率的分析型聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）系统，为各种样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和三维表征性能。Scios 2 DualBeam具有创新功能，旨在提高产量、精度和易用性，是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。 次表层表征 为了更好地了解样品的结构和特性，通常需要进行次表层或三维表征。Scios 2 DualBeam与可选的Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4)软件一起，可以高质量、全自动地获取多模式的三维数据集，包括背散射电子（BSE）成像以获得最大的材料对比度，能量分散光谱（EDS）以获得成分信息，以及电子背散射衍射（EBSD）以获得微结构和晶体学信息。与Thermo Scientific Avizo软件相结合，Scios 2 DualBeam提供了一个独特的工作流程解决方案，用于高分辨率、先进的三维表征和纳米级分析。 背散射电子和二次电子成像 创新的NICol电子柱为该系统的高分辨率成像和检测能力提供了基础。