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倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg
... 在快节奏的电池制造和分析领域，快速的吞吐量就是一切。但精确的颗粒分析也同样重要。Thermo Scientific Phenom ParticleX 电池台式扫描电镜可同时满足这两个要求。 与市场上的其他自动质量控制扫描电镜相比，它的分析速度提高了 10 倍，可同时分析多达 49 个样品。重要的是，它能在微观尺度上进行分析，即使是最小的杂质也能检测出来，有助于确保最终产品的安全性和性能。 Thermo Scientific Perception 软件可自动分析每个样品中的数万个微粒，然后将发现的微粒数量和类型与设定的清洁度规格相匹配。然后，它将为您和您的团队提供简明扼要的工业报告，将原始数据转化为清晰、公正的见解。 吞吐量比其他扫描电镜更快 Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
倍率: 2,000,000 unit
空间分辨率: 10, 3, 2, 200, 400 nm
重量: 75 kg
... Thermo Scientific Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 专为帮助您以高分辨率和极快的速度分析小颗粒而设计。但对繁忙的实验室管理人员来说同样重要的是，它无需大量培训即可实现这一切，因此更多的实验室工作人员可以取得更大的成就。 Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 能够带来这些优势，部分原因在于它的电子源。它使用场发射枪，通过小电磁场从电子源中提取电子。这样就能更好地控制显微镜，同时还能分析对光束敏感的样品。 达到纳米尺度 以高分辨率分析小颗粒。 只需一小时培训 现在，您可以向每个人开放高端 ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 0.7, 1, 0.6 nm
... 具有亚纳米分辨率和高材料对比度的纳米材料的扫描电子显微镜表征。 Verios 5 XHR扫描电子显微镜 Verios 5 XHR扫描电子显微镜在整个1 keV到30 keV的能量范围内提供亚纳米级的分辨率，具有出色的材料对比度。前所未有的自动化水平和易用性使任何经验水平的用户都能获得这种性能。 扫描电子显微镜表征 - 使用UC+单色电子源进行高分辨率纳米材料成像，在1-30千伏范围内具有亚纳米级性能。 - 敏感材料上的高对比度，性能优异，降落能量低至20eV，高灵敏度的柱内和透镜下探测器和信号过滤，实现低剂量操作和最佳对比度选择。 - ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
空间分辨率: 0.7, 1.2 nm
... 蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。 GeminiSEM 360是用于您分析测试平台的理想设备，为材料和生命科学、工业领域提供了至臻的功能性。凭借其Gemini 1电子光学镜筒，GeminiSEM 360可为各种应用和样品类型提供高分辨率成像及分析。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... EVO系列结合高性能扫描电子显微镜，为显微镜专家和新用户带来直观且易操作的使用体验。凭借丰富的选件，无论是在生命科学、材料科学，或是在日常工业质量保证和失效分析领域，EVO均可根据您的需求量身定制。 用于显微镜中心或工业质量保证实验室的多功能解决方案 获取真实样品的出色图像 使用六硼化镧（LaB6）发射体实现高图像质量 对非导电和未涂层样品进行出色的成像和分析 工作流自动化和数据完整性 轻松使用丰富功能 SmartSEM Touch，只需指尖轻触便能轻松控制交互式工作流。操作简单易上手，大大减少了培训的工作量及成本，即便是新手用户也能在几分钟内采集到出色的图像。此外，该用户界面还可为需要自动化工作流来完成可重复检测任务的工业操作员提供帮助。 出色的图像质量 EVO在获取无涂层和未改性样品的优良数据方面具备优势。EVO使含水与重度污染的样品保留其原生状态，从而保护数据质量。此外，六硼化镧电子枪还能增强分辨率、衬度和信噪比，这在面对具有挑战性的成像与显微分析时非常重要。 EVO可作为半自动化和多模式工作流的一部分，无缝衔接再定位感兴趣区域，并且保障多种模式下收集数据的完整性。 EVO能与其他显微镜良好互联 EVO可作为半自动化和多模式工作流的一部分，无缝衔接再定位感兴趣区域，并且保障多种模式下收集数据的完整性。它可将光学与电子显微镜的数据相结合，进行材料表征或部件检验，也可将EVO与蔡司光学显微镜结合使用，进行关联颗粒度分析。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... 将高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的加工能力相结合。无论在科研机构还是工业实验室，您都可以在多用户实验平台中工作。利用蔡司Crossbeam的模块化平台概念，根据日益增长的需求升级您的系统，例如使用LaserFIB进行大规模材料加工。在切割、成像或执行三维分析时，Crossbeam将提升您的FIB应用效率。 使您的SEM具备强大的洞察力 提升您的FIB样品制备效率 在您的FIB-SEM分析中体验出色的三维空间分辨率 使您的SEM具备强大的洞察力 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm
... 超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.6 nm
... 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更多的观测需求。 先进的自动化功能* EM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.7, 0.6 nm
... 超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 超高分辨成像 日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下，也可获得超高分辨的图像。 0.8 kV电压条件下观察RHO型沸石的实例。左图为颗粒整体的形貌,右图为放大图像，颗粒表面细微的台阶结构清晰可见。低电压观察对于减少电子束损伤和获取表面形状信息较为有效 高衬度的低加速电压背散射图像 3D ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
... CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。 与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用户可以通过简单的操作获得高质量的图像，初学者也可轻松上手。 产品特点：高效、易于操作且随时提供高质量图像 ◆ 高通量 ...
Jeol
倍率: 50 unit
重量: 45 kg
... 这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。 用于检查大型样品的高级显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。 尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital ...
倍率: 20 unit - 220 unit
重量: 125 g
长度: 10.5 cm
... Dino-Lite AM5218MZT Edge 可通过直接数字 DVI/HDMI 接口直接连接到高清电视或液晶显示器。它具有清晰、鲜艳的高清 720p 分辨率，可显示最微小的细节。 AM5218MZT Edge 是实时图像至关重要的理想选择，例如在 PCB 或其他微型物体上工作时。轻触显微镜上的 Microtouch 传感器，图像就会定格，以便检查重要细节；按下 Microtouch 传感器 2 秒钟，LED 灯就会打开或关闭。铝制外壳具有更强的保护性和耐用性，并拥有最佳的外观和触感。内置的可调偏振片可减少金属表面、电子设备、塑料等闪亮物体上的眩光和反光。 规格 照明 灯光/ ...
... 用于自动布氏内尔测量的数字显微镜 ISO 6506-ASTM E10 电子显微镜用于自动布氏压痕测量，具有直径 2.5 或 5 或 10 mm 的球 • 用户友好和紧凑型 • 自动光调节 • 测量精度和重复性 +/-1% v • 可安装 • 将数据和图像导出为 Jpg, Bmp, PDF, excel, txt, CSV • 创建和打印包含结果和统计数据的报告 • 远程数据网络, 校准, 服务和软件更新的互联网连接 软件 控制整个测量，避免设置错误或操作 员错误:设置硬度测试秤, 相机的属性, ...
空间分辨率: 20 nm
... 表面敏感显微镜 20 纳米侧向分辨率 局部光谱 K 空间成像 易于操作 与 MULTIPROBE 超高压系统兼容 A F OCUS 产品光发射电子显微镜 (PEEM) 是一种非常强大的成像技术, 其多功能性用于地形, 高分辨率的化学和磁造影成像已在许多实验室和同步加速器应用中得到证明. 对磁性器件表征、等离子体研究、表面化学和高侧分辨率化学分析结合同步加速器辐射、时间分辨过程调查和 k 空间成像等重要贡献仅是基于 PEEM 的几个实例。 研究。 与扫描电子显微镜 (SEM) 相反，PEEM ...
倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4, 7, 3 nm
重量: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 扫描电镜 -电子光学 分辨率：3 nm@ 30 kV, SE/7 nm@ 3 kV, SE/4 nm@ 30 kV, BSE/3 nm@ 30 kV, SE, 30 Pa 加速电压：0.2 kV ~ 30 kV 放大倍率（宝丽来）：1 x ~ 300,000 x -样品室 低真空：5 ~ 1000 Pa（可选） 摄像头：光学导航/样品室监控 平台类型：5 轴真空兼容电动平台 XY 范围：125 毫米 Z 范围：50 毫米 T 范围：- 10° ~ 90 R 范围：360° -SEM ...
CIQTEK Co., Ltd.
