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电子显微镜 Phenom Pharos G2
教学用质量控制用于材料研究

电子显微镜 - Phenom Pharos G2 - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - 教学用 / 质量控制 / 用于材料研究
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产品规格型号

分类
电子
专业应用类型
工业, 教学用, 质量控制, 用于材料研究
配置
台面式
探测器类型
背向散射电子, 二次电子
倍率

2,000,000 unit

空间分辨率

2 nm, 3 nm, 10 nm, 200 nm, 400 nm

重量

75 kg
(165.3 lb)

宽度

360 mm
(14.2 in)

高度

590 mm
(23.2 in)

产品介绍

Thermo Scientific Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 专为帮助您以高分辨率和极快的速度分析小颗粒而设计。但对繁忙的实验室管理人员来说同样重要的是,它无需大量培训即可实现这一切,因此更多的实验室工作人员可以取得更大的成就。 Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 能够带来这些优势,部分原因在于它的电子源。它使用场发射枪,通过小电磁场从电子源中提取电子。这样就能更好地控制显微镜,同时还能分析对光束敏感的样品。 达到纳米尺度 以高分辨率分析小颗粒。 只需一小时培训 现在,您可以向每个人开放高端 FEG-SEM 分析世界,让您从显微镜中获得更多。 光束敏感样品的理想选择 借助 FEG 光源,Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 可对光束敏感样品进行高质量成像。 满足您的最大需求 专门开发的便携式系统,支持您不断追求更高的易用性和生产率。 Phenom Pharos G2 SEM 资源 您想了解有关 Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 的更多信息吗?深入了解从电子书到数据表的丰富资源。 使用 Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 实现纳米级成像 Thermo Scientific Phenom Pharos G2 台式 FEG-SEM 可帮助您在舒适的办公环境中以高分辨率分析小颗粒。它可以帮助您对纳米颗粒、涂层中的瑕疵以及其他各种纳米尺寸的特征进行成像,而其他台式扫描电镜或钨扫描电镜可能会忽略这些特征。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。