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SEM显微镜 Phenom ParticleX TC
用于分析多功能台式

SEM显微镜
SEM显微镜
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产品规格型号

分类
SEM
专业应用类型
用于分析, 多功能
配置
台式
电子源
CeB6
探测器类型
二次电子, 背向散射电子
其他特性
自动化, 用于空间成像
倍率

最少: 160 unit

最多: 200,000 unit

空间分辨率

最少: 0 nm

最多: 10 nm

产品介绍

用多功能台式扫描电镜进行部件清洁度分析。 用于部件清洁度分析的台式扫描电镜 Thermo Scientific Phenom ParticleX TC台式扫描电镜是一款多用途的台式扫描电镜,能在微观层面上实现技术清洁。 材料表征 作为高质量内部分析的多功能解决方案,Phenom ParticleX Desktop SEM使您有能力对材料进行快速表征、验证和分类,用快速、准确和可信的数据支持您的生产。该系统操作简单,学习迅速,为更多的用户打开了粒子和材料分析的大门。 主要特点 技术洁净度 随着(汽车)行业内对超出光镜范围的较小颗粒的分析需求不断增加,Phenom ParticleX TC(技术洁净度)桌面扫描电镜实现了自动扫描电子显微镜与能量分散X射线光谱(EDS)。与光镜相比,这是一个很大的优势,因为它可以对颗粒进行化学分类,为您的生产过程和/或环境提供很好的洞察力。可提供符合VDA 19 / ISO 16232或ISO 4406/4407的标准报告。 二次电子检测器 Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM可以选择使用二次电子检测器(SED)。SED从样品的表面层收集低能量的电子。因此,它是揭示详细样品表面信息的最佳选择。SED对于地形学和形态学很重要的应用有很大帮助。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。