3D显微镜

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电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜
电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜
Helios 5 DualBeam

空间分辨率: 0.3 nm - 1.5 nm
重量: 500 g

... TEM和STEM成像或原子探针断层成像的样品制备。易于使用,具有先进的自动化功能。能够进行高质量的地下三维表征。 FIB样品制备 新的Thermo Scientific Helios 5 DualBeam建立在业界领先的Helios DualBeam系列的高性能成像和分析能力之上。它经过精心设计,以满足材料科学研究人员和工程师对广泛的聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)使用案例的需求--即使是对最具挑战性的样品。 Helios ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
FIB/SEM显微镜
FIB/SEM显微镜
Helios 5

空间分辨率: 515, 1,030 nm

... 几乎不存在热冲击、微裂纹、熔化或那些传统机械抛光的典型伪影。在大多数情况下,激光铣削的表面足够干净,可以直接进行SEM成像,甚至可以进行表面敏感技术,如电子背散射衍射(EBSD)制图。 我们为透射电子显微镜(TEM)样品制备、原子探针断层扫描(APT)样品制备和三维结构分析等应用提供广泛的产品组合和先进的自动化能力。 ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
STEM显微镜
STEM显微镜
Helios 5 Hydra

空间分辨率: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... ,PFIB-SEM)是一种多功能的多应用工具,它有四种不同的离子(氩气、氮气、氧气和氙气),允许你选择能够为包括金属、电池、纤维复合材料和生物组织等样品提供最佳结果的离子。无论你是进行扫描透射电子显微镜(STEM)和透射电子显微镜(TEM)样品制备、三维材料表征,还是细胞低温层析,好的结果都是从样品制备开始。 您可以在十分钟内轻松地在氩气、氮气、氧气和氙气之间切换,而不会影响性能。这种前所未有的灵活性大大扩展了PFIB的潜在应用空间,使离子-样品相互作用的研究能够优化现有的使用案例。 Helios ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
激光扫描共聚焦显微镜
激光扫描共聚焦显微镜
LEXT™ OLS5100

倍率: 54 unit - 17,280 unit
重量: 31, 32, 50, 43 kg

用于材料分析的激光显微镜 更智能的工作流程,更快速的实验设计 适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将卓越的测量精度和光学性能与智能工具相结合,让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程。 保证测量准确度 LEXT显微镜物镜可提供高度准确的测量数据。与智能物镜选择助手(Smart Lens Advisor)搭配使用,就可获得可靠的高精度数据。 • 有保证的测量准确度* • 奥林巴斯享誉世界的光学器件能够以更低像差在整个视场中捕捉样品的真实形貌 • ...

检查显微镜
检查显微镜
DM12000 M

徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。 最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。 一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果 超过传统观察4倍以上的效率 低倍宏观模式为您提供了比普通观察技术4倍以上的视野。 最高分辨率 全新的倾斜紫外观察模式(OUV) ...

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Leica Microsystems GmbH/徕卡
光电数码显微镜
光电数码显微镜
DVM6

... 允许在不同的放大倍数之间快速变化。物体领域是可变的,从0.18到35毫米,无需重新对焦。倾斜支架(-/+60°,使用适配器可达到90°)和旋转样品台(-/+180°)只需一只手就可以简单操作。高分辨率的1000万像素摄像头,可快速显示实时图像(每秒30幅)。用于二维和三维测量的智能软件,可重复的结果和报告的创建只需点击几下即可。 ...

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Leica Microsystems GmbH/徕卡
实验室显微镜
实验室显微镜
LIGHTNING

... 最大限度地利用LIGHTNING检测包从标本中提取信息,并深入解答科学问题。 LIGHTNING能自动检测出最细微的结构和细节,否则根本无法看到。LIGHTNING的关键技术是自适应提取图像中的隐藏信息。与传统技术不同的是,LIGHTNING使用的是全局参数,而LIGHTNING为每个体素计算出一套合适的参数,从而以最高的保真度发现每个细节。 更重要的是,LIGHTNING检测理念在TCS SP8共聚焦显微镜的基础上,以原有的全速同步多色超分辨率成像,扩展了TCS SP8的功能。 ...

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Leica Microsystems GmbH/徕卡
扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SU8600

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.7, 0.6 nm

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 超高分辨成像 日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下,也可获得超高分辨的图像。 0.8 kV电压条件下观察RHO型沸石的实例。左图为颗粒整体的形貌,右图为放大图像,颗粒表面细微的台阶结构清晰可见。低电压观察对于减少电子束损伤和获取表面形状信息较为有效 高衬度的低加速电压背散射图像 3D ...

扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SU5000

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)* • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能,低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配备高灵敏度低真空探测器(UVD)* • ...

传输式电子显微镜
传输式电子显微镜
HT7800 series

倍率: 1,000,000, 800,000, 600,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14, 0.19 nm

... 日立的双隙物镜设计,支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察 • 凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能,从初学者到熟练者均可操作 • 通过全新设计的"Image Navigation"功能,可轻松搜寻视野和拍摄图像 • 配备全自动图像拼接功能、三维重构、STEM和EDX等选配项,支持多种用途 • 通过选择高分辨率透镜,实现低损伤、高反差、高分辨率的观察,并可支持in situ观察 使用高清荧光屏相机在明亮环境下进行数字化操作 可在显示器上进行电子束调整、图像观察、数据获取等一系列TEM ...

金相学显微镜
金相学显微镜
MF series

倍率: 2,000 unit
空间分辨率: 0.5, 0.1, 1 µm

光学显微镜
光学显微镜
InVi SPIM Lattice Pro

... Lattice Pro使用专有的高级照明模块(AIM)对样品进行照明,提供了最高水平的灵活性。它扩展了InVi SPIM的功能:在保持系统的易用性和稳定性的同时,它增加了光束形状的可定制、可互动的适应性,以适应您的样品的高度具体要求。您可以选择为您的三维高分辨率成像实验提供最佳结果的方法--大视野、高速或最佳空间分辨率。 InVi SPIM Lattice Pro提供了多种照明模式,从经典的静态高斯光片或扫描的高斯光束到复杂的照明方案,如贝塞尔光束、艾瑞光束或光学网格。 用户可以从广泛的光束形状中进行选择 ...

拉曼式显微镜
拉曼式显微镜
DXR3xi

空间分辨率: 0.5, 2 µm

... 先进的成像功能加上最少的样品准备和直观的软件,让用户以研究人员需要的速度获得拉曼的力量。 DXR3xi拉曼成像显微镜提供。 操作简单,适合各种技能水平的用户 通过增强的成像软件实现更快的数据可视化 先进的颗粒分析,可快速识别和分析样品中的微小污染物。 三维共聚焦成像提供非破坏性、非侵入性的化学和分子化合物的三维调查成像。 地形测绘可对不平整的样品表面进行表征,并轻松采集焦点内拉曼图像。 直观的工作流程,适用于要求严格的应用,以最大限度地提高样品吞吐量。 自动校准,实现效率最大化 精确的测量。 自动对准和校准--无需工具 自动背景补偿 ...

数字显微镜
数字显微镜
DEEPFOCUS 1

倍率: 49 unit - 353 unit

DeepFocus 1数码显微镜,结合蔡司Visioner1和MALS™技术,提供比传统显微镜系统更大的景深(DoF),在单一视图中提供实时清晰的影像。 全聚焦 DeepFocus 1数码显微镜可以在单一视图中扩展样本景深达100倍。 加快观测检查,减少不完全检查导致的风险。 传统观测系统受景深深浅的限制,特别是在高倍放大时。 只能聚焦样品的一小部分区域,则会导致观测任务耗时且可能导致特征缺失和观测不完整。 高度达69mm组件的锐聚焦图像在单一视图中显示,无需重新定位组件,避免任何额外的重聚焦或Z轴堆叠处理。 先进的3D可视化 DeepFocus ...

光学显微镜
光学显微镜
PCE-IVM 3D

倍率: 18 unit - 93 unit

... 这种机械的 3D 显微镜具有 175 毫米大的工作距离。 因此,对更大的物体的分析非常简化。 3D 显微镜在 LC 显示屏上提供物体的三维图像。 LC 显示屏上显示的图像也可以通过 U... 接口传输到计算机,并在那里可以进一步编辑(因此需要特殊的软件,该软件不包含在交付中,必须单独购...)。 机械三维显微镜提供 18... 93 倍的放大倍率,因此可用于控制和操作电子建筑部件、电路板、珠宝等等。 ...

3D显微镜
3D显微镜
PCE-IDM 3D

倍率: 7 unit - 150 unit

... 数字显微镜 PCE-IDM 3D 自带用户界面的3D数字显微镜/大接触面积/无级亮度控制/聚焦范围250毫米(9.8英寸)/SD卡存储/通过VGA或USB传输图像/支持305 x 225毫米(12 x 8.9英寸)的表面。 三维数字显微镜是一种带有自己的用户界面的数字显微镜,其中有多种分析功能。实时图像和用户界面一起通过VGA连接将3D显微镜传输到连接的显示器上。为了操作3D数字显微镜的用户界面,需要一个市售的电脑鼠标,这已经包含在供货范围内。除了VGA连接外,还可以通过USB接口直接将图像传输到 ...

光学显微镜
光学显微镜
WM1 200 series

... 高科技-低预算,集成图像处理或作为 "小型 "多传感器设备用于测量 - 空白的零件 - 塑料部件 - 橡胶部件 - 工具 - 密封件 - 型材,等等。 WM1系列的车间显微镜 - 为您的测量应用量身定做的解决方案 无论您选择WM1的手动版还是数控版--我们的两套测量软件SAPHIR和M3都可用于这两种情况。在入门级中,M3测量软件在直观的操作和功能方面树立了标准。如果您对编程和分析的可能性有进一步的要求,那么我们的3D测量软件也可以提供。这两款软件在CNC版本中都可以选择升级,增加一个触觉测量探头,形成一个 ...

光学显微镜
光学显微镜
ZTX-S series

ZTX-S系列连续变倍摄影像显微镜具有高分辨率、高清晰度和强立体感的光学成像系统,通过简便操作就可以获得连续变倍图像,广泛应用于电子行业中半导体和集成电路板的检测以及教学、农业、电子工业和仪器仪表行业作精细零部件的检验、装配、修理。

原子力显微镜
原子力显微镜
LensAFM

空间分辨率: 14 µm - 110 µm

LensAFM — 镜头式原子力显微镜 扩展光学显微镜或者三维轮廓仪的分辨率 Nanosurf公司的LensAFM是一款可以作为一个常规的光学镜头配置在几乎任何一款光学显微镜或光学轮廓仪上的镜头式原子力显微镜.LensAFM大大扩展了这些仪器的分辨率与测量能力,它不仅仅提供了三维表面形貌信息, 而且也可以用来分析被测样品的其他物理特性.  主要特征与优势 几乎可以安装在任何一款光学显微镜或三维光学轮廓仪上 内置马达用于自动探针逼近 AFM标准模式与扩展AFM模式可以通过模块化控制器来配置

FIB/SEM显微镜
FIB/SEM显微镜
JIB-PS500i

... JIB-PS500i 提供三种解决方案来协助 TEM 标本制备。确保了从试样制备到 TEM 观察的高通量工作流程。 特点 TEM 链接 使用 JEOL 的双倾斜盒和 TEM 夹具*可促进 TEM 和 FIB 之间的连接。只需轻轻一按,就可将盒安装到专用的 TEM 样品架上。 使用双倾斜盒*的试样传送工作流程 所采用的 OmniProbe 400*(牛津仪器公司)可实现精确流畅的拾取操作和处理。OmniProbe 400* 的操作已集成到 JIB-PS500i ...

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Jeol
数字显微镜
数字显微镜
MM series

重量: 50, 72 kg
宽度: 380, 300 mm
高度: 725, 638 mm

专为众多工业测量和图像分析应用而设计的一套精密且准确的手动测量显微镜,特别注重可重复的数据采集,所有这些都只需一个简单的用户工作流程。 提高测量精度和系统化等各种功能的测量显微镜。可以用于所有工业领域的测量。 高精度结构提供更精确的测量结果 追求高精度和使用便利性,能够应对广泛需求的测量显微镜。 MM-400和MM-800系列都在一个完整的数字控制系统中运行,能在工业在线和质量保证应用中提供出色的测量精度。检查、测量和验证各种部件的2D和3D特征。 高扩展性可以让用户选择应对高度测量、样品尺寸测量和数字图像测量等各种各样需求的配置 尼康MM-400N和MM-800N系列 适用于电子零件、塑料件、金属加工件、工具等多种行业的零件测量的测量显微镜。 尼康卓越光学系统 远心光学系统和高对比度、低像差的图像减少测量误差。超长工作距离带来便利操作。 工业显微镜用CFI60-2物镜 CFI60-2物镜可以对微小样品进行准确测量。 ...

光电数码显微镜
光电数码显微镜
Smartzoom 5

... 通过蔡司工业显微镜系列,蔡司支持其客户在多用户环境下,在多个部门和不同的显微镜类型中一致地获取、管理和利用其显微镜数据。 这使得用户可以独立操作,通过跨维度或跨模式的结果组合和数据共享来分析趋势和更深入的洞察力。其结果是:在工业显微镜应用中具有更高的生产力和更高的确定性。 - 视觉检查的 "行"/"不行 - 识别缺陷和故障并确定其根本原因 - 表征粗糙度和拓扑结构 - 追踪颗粒污染情况 - 识别关键几何尺寸上的偏差 ZEN core的统一用户界面允许用户以同样的方式操作显微镜,从立体显微镜到完全自动化的高端应用。这个强大的软件套件能够在多模式的工作流程中实现光镜和电子显微镜的关联,并提供系统、部门和地点之间的连接。ZEN核心处理的不仅仅是显微镜成像。它是最全面的成像、分割、分析和数据连接工具套件,用于连接材料实验室的多模态显微镜检查。 ...

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ZEISS Industrial Metrology/蔡司
探头扫描式显微镜
探头扫描式显微镜
Invizo® 6000

Invizo 6000 三维原子探针显微镜引入重大技术突破,推动了原子探针分析的发展。其超宽视场飞行路径和独特的双光束深紫外激光脉冲系统使单样本产量更高、分析量更大、重建保真度更高,可从每个数据集获得更多信息。Invizo 6000 是各种应用进阶研究的理想选择。 CAMECA 的 Invizo 6000 三维原子探针的核心是一个全新的对电极概念,除了使离子光学具有前所未有的 APT 视场外,还允许样本的对称激光照明,从而实现无与伦比的分析能力。 Invizo ...

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CAMECA
扫描隧道显微镜
扫描隧道显微镜
LT STM

... 保持时间在同一性能水平下提高至 65h 高频布线提高 光谱分辨率 自 1996 年以来经过验证的平台,安装了 200 多台设备 可靠的设计,确保高正常运行时间 独立的尖端和样品温度 领先的 QPlus® AFM 技术 自 1996 年推出以来,我们的低温 STM 已经为 LHE4 浴室冷冻器 STM 的稳定性、性能和生产率设定了标准。 在推出 LT STM 超过 20 年之后,低温 SPM 技术在广泛的活跃科学领域的重要性仍然没有突破。 分子光谱学、原子操纵、碳、超导体、半导体、金属上的气体和磁性学,只是研究充分利用低温 ...

光学显微镜
光学显微镜
Stereo Discovery V8

重量: 1.4 kg

... 模块化体视显微镜中的佼佼者,配备 8 倍手动变焦。 新型高性能光学元件--这是卡尔蔡司在开发其最新入门级精密体视显微镜时所关注的突出性能特点。 SteREO Discovery V8 具有更高的分辨率和对比度,最显著的是,它的 3D 立体感得到了明显改善。 因此,它所提供的图像亮度在同类仪器中无出其右者。 为了在所有生物医学和工业应用中明显增加信息量,现在是采用全新视角的时候了。 如今,任何人要想开发一款能为光学系统设定新标准的体视显微镜,都必须在物理可行性的极限范围内开展建设性工作,充分利用最先进的光学设计所提供的每一种新可能性。 ...

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Hitech Instruments
电子显微镜
电子显微镜
0.5 μm, 150 x 100 mm | VMS-1510G

数字显微镜
数字显微镜
Omni 3

倍率: 3 unit - 68 unit
重量: 1.5 kg
长度: 216 mm

... 的情况下处理复杂的成像任务。定制设计,提供最大功率。 应用程序 测量 栅格 点对点、直径、角度、可调整的X-Y网格、形状和注释功能,以适应众多的样品规格。栅栏和数字模板的创建具有设定的公差限制。实现快速的去/不去缺陷分析。 Z高度 测量应用程序 在新的Omni 3上进行三维测量。现在,除了X和Y轴之外,您还可以在Z轴上进行测量,将Omni 3的能力提升到一个全新的层面。与过时的手工检测方法相比,快速检测您的零件,速度可提高五倍。 特点 AshCalTM 用AshCal™节省时间。对所有镜头进行工厂校准跟踪。改变放大倍数时无需重新校准 ...

探头扫描式显微镜
探头扫描式显微镜
AA5000

空间分辨率: 0.26, 0.13 nm

... Angstrom 的 AA5000 扫描探头显微镜提供了高达 100 微米的原子尺度的图像。 它具有 STM、AFM、LFM 导电 AFM、MFM、EFM、环境控制 SPM 和纳米加工技术。 凭借其数字信号处理器 TMS320C642,AA5000 还能够轻松高效地处理多功能、复杂的任务。 SPM/DNA 的实时操作系统已嵌入在 AA5000 SPM 系统中。 它可以处于接触模式、攻打模式、相位成像甚至提升模式。 SPM 可以是液体。 通过研究 I-V 曲线、I-Z ...

实验室显微镜
实验室显微镜
CLS Series

3D显微镜
3D显微镜
ONESHOT

... ONESHOT测量显微镜 “世界上唯一的一个" 包括ONESHOT VISIONBOX 测量显微镜 X、Y轴行程(mm):200×100,Z轴行程(mm):200。 线性刻度分辨率(mm): 0.0005 X、Y轴精度(um):≤3+L/200。 7至4.5变焦镜头(视频磁力30x至230x),FOV 7mm至1.1mm。 LED灯适应性强。LED下透光平行照明和LED上同轴照明、环形照明。 ONESHOT软件 ...

X射线显微镜
X射线显微镜
SKYSCAN 1273

... 高容量三维 X 射线显微镜 SKYSCAL 1273 是布鲁克最新的台式 3D X 射线显微镜,基于微计算机断层扫描(Micro-CT)技术。 样品长度可达 500 毫米,直径 300 毫米,最大重量为 20 公斤,这是使用台式仪器进行无损检测 (NDT) 的新标准。 同类最佳的组件将SKYScan 1273 变成了真正的电源包。 高功率运行的高能量 X 射线源与具有极高灵敏度和速度的大尺寸平板检测器相结合,可在几秒钟内提供出色的图像质量。 ...

光学显微镜
光学显微镜
MarVision SM 151

倍率: 7 unit - 45 unit

立体变焦显微镜 SM 151 观察管角度: 45° 相机连接器: 是 光学管: 三目 视野 - 直径 (mm): 28 - 5 放大率: 变焦 7x-45x 对象最大高度 (mm): 75 照明度: 12 V /15 W 入射和透射光,可调节 电源: 230 V / 50 Hz 包装内容: 目镜 10x 带眼罩, 灰尘罩, 黑/白玻璃和塑料板, 说明书 • 高质量光学元件,光强度高,3D 图像清晰 • 可变焦镜头提供持续可变放大率 • ...

光学显微镜
光学显微镜
CM EXPLORER

... 有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学) • 轮廓和形状 (2D, 3D) • 孔,颗粒分析 • 缺陷检测 • ... 最高数据质量 我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等 ...

光学显微镜
光学显微镜
MarSurf 3D WI 100

... 100 是一台强大的表面分析仪,用于表面的三维测量和分析 - 非接触,与材料无关,而且速度快. 高性能实验室和 QA 系统 高端 MarSurf WI 100 仪器具有 xyz 方向的扩展工作区,特别适合大样本量:只需按下侧面调整,即可移动额外的手动 Z 典型测量任务 • 粗糙度测量符合 • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学) • ...

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