原位显微镜

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FIB/SEM显微镜
FIB/SEM显微镜
Helios 5

空间分辨率: 515, 1,030 nm

... 聚焦离子束铣削和飞秒激光烧蚀 Thermo Scientific Helios 5 PFIB激光系统将等离子体聚焦离子束铣削与飞秒激光烧蚀和SEM(扫描电子显微镜)成像相结合。这种 "TriBeam "组合实现了高分辨率的成像和分析,并具有原位烧蚀能力,为纳米分辨率的快速毫米级表征提供了前所未有的材料去除率。 飞秒激光器可以切割许多材料,其速度比典型的FIB快几个数量级。一个大的横截面(数百微米)可以在5分钟内完成。由于激光具有不同的去除机制(烧蚀与FIB的离子溅射相比),它可以轻松地处理具有挑战性的材料,如不导电或对离子束敏感的样品。 飞秒激光脉冲的持续时间极短,几乎不存在热冲击、微裂纹、熔化或那些传统机械抛光的典型伪影。在大多数情况下,激光铣削的表面足够干净,可以直接进行SEM成像,甚至可以进行表面敏感技术,如电子背散射衍射(EBSD)制图。 我们为透射电子显微镜(TEM)样品制备、原子探针断层扫描(APT)样品制备和三维结构分析等应用提供广泛的产品组合和先进的自动化能力。 ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
STEM显微镜
STEM显微镜
Talos L120C G2

空间分辨率: 0.2, 0.37 nm

... 多功能的TEM和STEM显微镜,利用高对比度对光束敏感的样品和材料进行二维和三维可视化。 Talos L120C G2透射电子显微镜 Thermo Scientific Talos L120C G2 (S)TEM是一款20-120 kV热释电(扫描)透射电子显微镜,其独特的设计使其具有良好的性能和生产力。它在广泛的样品和应用中都很有用,如细胞、细胞器、石棉、聚合物和软材料的二维和三维成像,无论是在环境温度还是低温下。无论你的技术水平如何,Talos L120C都可以让你以最小的努力获得高质量的结果。简单而直观的用户界面(UI)促进了样品的常规二维成像。通过在先进的三维成像工作流程中实现快速和复杂的自动化,并为20-120千伏的仪器提供卓越的TEM和STEM分辨率,使您能够专注于科学问题而不是显微镜操作。 Talos ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
TEM显微镜
TEM显微镜
Themis ETEM

空间分辨率: 0.1, 0.2, 0.6, 0.7, 0.14 nm

... 用于材料分析的原子分辨率TEM,具有用于原位TEM研究的环境模式。 如果你的重点是原子尺度的研究,在纳米结构特征的长度尺度上原位观察结构动态是极其重要的。Thermo Scientific Themis ETEM建立在成熟的Titan环境透射电子显微镜(ETEM)概念之上,结合了标准TEM/STEM(TEM和扫描透射电子显微镜)和专用环境TEM功能,用于时间分辨、原位研究纳米材料的动态行为。Themis ETEM被设计成一个完全集成的平台,用于原位实验,如将纳米结构暴露在气体反应/操作环境中。 环境TEM的优势 新的Themis ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SU7000

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.8 nm

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜,可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化。 3.支持不同形状样品、多种观察方法 • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SU5000

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)* • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能,低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配备高灵敏度低真空探测器(UVD)* • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
STEM显微镜
STEM显微镜
HF5000

倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm

200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能,像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户,我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 ※附带第二显示器(可选),显示屏为嵌入式合成界面。 特点 • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
X射线显微镜
X射线显微镜
SEM-Raman

拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。 雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱 (EDS) 作为传统的SEM内部分析技术的局限性。采用雷尼绍拉曼-SEM联用系统,您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。 使用SEM生成样品的高分辨图像,并进行元素分析。增加拉曼分析能力,以获取化学信息和图像。识别物质和非金属,即使当它们具有相同的化学计量结果时也不例外。 SCA和inVia不仅可以测试拉曼光谱,还可以进行光致发光 ...

X射线显微镜
X射线显微镜
Xradia 410 Versa

... 蔡司Xradia 410 Versa 您的3D亚微米成像的主力解决方案。 弥合基于实验室的无损亚微米显微镜的差距 Xradia 410 Versa 弥补了高性能 X 射线显微镜与功能较弱的计算机断层扫描 (CT) 系统之间的差距。Xradia 410 Versa 提供具有行业最佳分辨率、对比度和原位功能的非破坏性 3D 成像,使您能够对最广泛的样本尺寸进行突破性研究。这款功能强大、成本效益高的 "主力 "解决方案,即使在不同的实验室环境中也能增强成像工作流程。 亮点 行业领先的4D和原位能力,可实现灵活的样品尺寸和类型。 Xradia ...

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ZEISS Industrial Metrology/蔡司
偏振显微镜
偏振显微镜
ECLIPSE LV100N POL

重量: 17 kg
长度: 490 mm
宽度: 251 mm

从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察,也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件,可应对多种偏光研究需求;Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片,检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器,用于为反射偏光提供照明。Ci-POL搭载LV-UEPI-N使用时,需要外接电源。 丰富的偏光专用附件 各种专业检板、补偿器、可对中调心的物镜转换器、旋转载物台、中间镜筒等偏光专用附件。 30mm长调焦行程 LV100N ...

电子扫描显微镜
电子扫描显微镜
SEM3200

倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 3, 4, 8 nm
重量: 480 kg

... CIQTEK SEM3200 是一款高性能钨丝扫描电子显微镜。它具有出色的图像质量、低真空模式兼容性、不同视场的高分辨率图像。景深大,图像立体感强。 扩展的可扩展性和功能 SEM SE\BSE\EDS\EDX\EBSD 等 光学导航 快速定位目标样品和感兴趣的区域 *大规模图像拼接 全自动选图和拼接,以显示大视场 图像混合(SE+BSE) 在一张图像中观察样品的成分和表面信息 *双阳极结构 在低电压下提高分辨率和成像质量 *低真空模式 在低真空条件下提供样品表面细节和形态,只需点击一下软件即可切换真空状态 ...

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CIQTEK Co., Ltd.
扫描电子场发射显微镜
扫描电子场发射显微镜
SEM5000

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 1, 1.5, 0.8 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK SEM5000 是一款高分辨率、功能丰富的场发射扫描电子显微镜(FE-SEM、FEG SEM)。 先进的柱体设计、高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无泄漏磁性物镜设计,实现低电压高分辨率成像,同时可应用磁性样品。光学导航、先进的自动功能、精心设计的人机交互和优化的操作。 无论是否有经验,都能快速上手高分辨率拍摄任务。 低加速电压下的高分辨率成像。 电磁复合镜减少了像差,显著提高了低电压下的分辨率,并可观察磁性样品。 高压隧道技术(超级隧道),隧道中的电子可保持高能量,减少空间电荷效应,确保低电压分辨率。 无交叉的电子光学路径可有效减少系统畸变,提高分辨率。 水冷恒温物镜,确保物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性。 磁偏转六孔可调光阑,自动切换光阑孔位,无需机械调节,实现高分辨率观测或大光束分析模式的快速切换。 ...

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CIQTEK Co., Ltd.
电子扫描显微镜
电子扫描显微镜
SEM5000X

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.6 nm
重量: 400 kg

... SEM5000X 是一款超高分辨率场发射扫描电子显微镜(FE-SEM),具有突破性的 0.6 nm@15 kV 和 1.0 nm@1 kV 分辨率。 突破性的 0.6 nm@15 kV 和 1.0 nm@1 kV 分辨率。得益于升级的柱工程工艺、"超级隧道 "技术和高分辨率物镜设计,SEM5000X 能够进一步提高低电压成像分辨率。试样室端口扩展到 16 个,试样交换负载锁支持最大 8 英寸晶圆尺寸(最大直径 208 毫米),极大地扩展了应用范围。先进的扫描模式和增强的自动化功能带来了更强大的性能和更优化的体验。 ...

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CIQTEK Co., Ltd.
数字显微镜
数字显微镜
IM•profile M

空间分辨率: 200 nm
重量: 1 kg

... 新的成像模块外形为20倍500万像素,现在还可提供一个独特的紧凑型X-Y-Z-Phi工作台,以轻松定位生命科学-医学样品。它是一款超紧凑的逆向USB/GigE数码显微镜,带有优化的聚光器和透射光LED。它适合每个实验室,可以成为每篇论文的一部分,因为它可以用Python编程,所需的预算只是大型标准显微镜的一小部分。 ...

金相学显微镜
金相学显微镜
MOBISCOPE

倍率: 100 unit - 500 unit
长度: 160 mm

... 原位/现场金相术被广泛用于对大型部件(样品)进行微观结构分析,这些部件(样品)不易携带,或不允许进行破坏性制备,如储罐、管道系统、发电厂等。原位金相分析可对部件进行快速现场评估。使用原位/现场金相术有许多优点。 MOBISCOPE 是现场检查预处理表面的理想选择。如果要在实验室进行详细分析,建议使用仿制工具包。 MOBISCOPE 便携式显微镜标配 10 倍和 50 倍物镜,总放大倍率高达 100 倍和 500 倍。还可选配 20x 和 80x 物镜。内置可充电 ...

探头扫描式显微镜
探头扫描式显微镜
TESLA JT SPM

... > 5 天不间断测量时间,在不同磁场中仅有 11 升 LHe 温度降至 1 K,4He 超低热漂移 磁场 BZ > 3 T 光学接入 STM 和 QPlus® AFM 人体工程学设计和可扩展至集群 T esla JT SPM 是焦尔-汤普森冷却低温显微镜在超高真空中工作,用于由 Scienta Ovac 和 CryoVac 开发的先进成像和光谱技术。 冷 冻器包含一个焦尔-汤普森冷却台,安装在 LHE 浴室冷却器下方,带有蒸汽冷却屏蔽和周围的 LN2 容器。 ...

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Scienta Omicron
拉曼式显微镜
拉曼式显微镜
RamMics M532/785

空间分辨率: 532, 785 nm

... 精确地按照客户的要求定制 易于使用 快速和值得信赖的结果 具有成本效益的全功能拉曼系统 低成本系统 拉曼显微镜532/785®是一种带有专门软件的光学光谱仪器,可以获得样品结构小细节的放大图像,也可以通过获取拉曼散射和光致发光测量样品的光谱特性。RamMics的功能包括光谱识别和分析微粒子组成和其他微结构物体和物质。 RamMics M532/785的广泛功能可以区分2-3微米大小的颗粒,并将它们与其他化学和物理特性的颗粒区分开来,这就在一个拉曼系统中打开了多种研究前景。 使用785纳米,你可以很容易地分析有色聚合物、油、染料。在785纳米的激发下,几乎可以消除富含色素的组织和其他高度自发荧光材料的背景。尽管拉曼信号要弱得多,但背景的消除促进了峰值检测。 532纳米的空间分辨率为1微米,光谱分辨率为4-6厘米-1,提供精确的测量质量和可重复性。光谱范围160 ...

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