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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立

Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立供应产品全部分类

Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

透射电子显微镜 SU9000 II

用于分析用于研究 BF-STEM

扫描电子场发射显微镜 SU8700

用于分析落地式肖特基场发射

扫描电子场发射显微镜 SU8600

用于分析 3D 冷场发射

扫描电子场发射显微镜 SU7000

用于分析 BF-STEM DF-STEM

电子扫描显微镜 SU3800/3900 Family

表面糙度测定用于分析用于研究

电子扫描显微镜 FlexSEM II

多功能用于分析用于检查非金属夹杂物质

SEM显微镜 TM4000PlusIII

测量用于分析按地形划分

STEM显微镜 HF5000

用于材料研究用于材料分析计量学

传输式电子显微镜 HT7800 Series

用于研究生物医疗明视野

扫描电子场发射显微镜 SU3800SE/SU3900SE

多功能检查钢用于检查材料

Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)

聚焦离子束探针 NX5000

聚焦离子束探针 NX9000

聚焦离子束探针 NX2000

Sample and Cross-Section Preparation

自动样本制备系统 ZoneSEM Ⅱ

实验室用于 SEM 清洁

自动样本制备系统 IM4000 II

用于 SEM 离子束铣削冷却

自动样本制备系统 ArBlade 5000 / IM5000-CTC

用于 SEM 离子束铣削冷却

自动样本制备系统 ZoneTEM II

用于 SEM 清洁台式

清空对比产品

对比多达10种产品