电子扫描显微镜 SEM3200

实验室质量控制用于材料分析

CIQTEK SEM3200 扫描电镜 -电子光学 分辨率：3 nm@ 30 kV, SE/7 nm@ 3 kV, SE/4 nm@ 30 kV, BSE/3 nm@ 30 kV, SE, 30 Pa 加速电压：0.2 kV ~ 30 kV 放大倍率（宝丽来）：1 x ~ 300,000 x -样品室 低真空：5 ~ 1000 Pa（可选） 摄像头：光学导航/样品室监控 平台类型：5 轴真空兼容电动平台 XY 范围：125 毫米 Z 范围：50 毫米 T 范围：- 10° ~ 90 R 范围：360° -SEM 探测器 标准： Everhart-Thornley 探测器 (ETD) 可选： 可伸缩式背散射电子探测器 (BSED) 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 (EBSD) -可选 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 -用户界面 操作系统： Windows 导航： 光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能： 自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM3200 扫描电子显微镜是一款性能卓越的通用型钨丝扫描电子显微镜（SEM）。其独特的双阳极电子枪结构确保了高分辨率，并提高了低激励电压下的图像信噪比。此外，它还提供多种可选附件，使 SEM3200 成为一款具有出色消耗性的多功能分析仪器。 #低电压下的出色性能 #双阳极电子枪 双阳极电子枪 #低真空模式 低真空模式 #预对准钨丝 预对准钨丝 #出色的扩展性 出色的扩展性