电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜 DB550

用于分析检查用于研究

CIQTEK FIB-SEM DB550 规格 *电子光学 电子枪类型：高亮度肖特基场发射电子枪 分辨率： 0.9 nm@15 kV；1.6 nm@1 kV 加速电压：0.02 kV 至 30 kV *离子束系统 离子源类型：镓 分辨率3 nm@30 kV 加速电压：0.5 千伏至 30 千伏 *样品室 真空系统：全自动控制，无油真空系统 摄像头三个摄像头（光学导航 x1 + 样品室监控器 x2） 平台类型：电动 5 轴机械偏心试样平台 平台范围X=110 毫米，Y=110 毫米，Z=65 毫米 T：-10°~+70°，R：360° *SEM 探测器和扩展装置 标准： - 镜头内电子探测器 埃弗哈特-桑利探测器（ETD） 可选： - 可伸缩式背散射电子探测器（BSED） 可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM） 能量色散光谱仪（EDS/EDX） 电子背散射衍射图样 (EBSD) 纳米机械手 气体注入系统 等离子清洗器 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 CIQTEK DB550 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 配有聚焦离子束柱，用于纳米分析和试样制备。它采用 "超级隧道 "电子光学技术、低像差和非磁性物镜设计。 # 超级隧道 "电子光学技术 # 镓离子束 # 卓越的扩展性 # 集成气体注入系统 # 集成纳米操纵器 # 标本交换负载锁（兼容 8 英寸）