电子扫描显微镜 SEM2100

实验室用于材料分析用于半导体

CIQTEK SEM2100 扫描电镜规格 电子光学 分辨率： 3.9 nm @ 20 kV，SE 4.5 nm @ 20 kV，BSE 加速电压：0.5 kV ~ 30 kV 放大倍率（宝丽来）1 x ~ 300,000 x 试样室 照相机光学导航 腔室监控 平台类型：3 轴，XYZ 轴真空兼容电动式 XY 范围： 125 毫米125 毫米 Z 范围：50 毫米50 毫米 SEM 检测器 标准：埃弗哈特-桑利探测器 (ETD) 可选：可伸缩式背散射电子探测器 (BSED) 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 (EBSD) 可选项 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 用户界面 操作系统视窗 导航光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM2100 扫描电镜简化了操作流程，其 "用户界面 "设计符合行业标准和用户习惯。尽管软件界面简约，但却提供了全面的自动化功能、测量和注释工具、图像后处理管理功能、光学图像导航等。SEM2100 的设计完美实现了 "简约而不失功能 "的理念。 #直观、简洁、易用的 Ul 设计 #全面的自动化功能 #集成图像后处理功能 #集成图像后处理功能 #标准光学图像导航 #卓越的扩展性 #更易于使用