丝钨显微镜 SEM 3300

电子扫描用于分析用于材料分析

CIQTEK SEM3300 扫描电镜规格 *电子光学 分辨率：2.5 nm @ 15 kV, SE 4 纳米 @ 3 千伏，SE 5 nm @ 1 kV, SE 加速电压：0.1 kV ~ 30 kV 放大倍率（宝丽来）1 x ~ 300,000 x *试样室 照相机光学导航 腔室监控 平台类型：5 轴真空兼容电动式 XY 范围125 毫米 Z 范围50 毫米 T 范围： - 10° ~ 90 R 范围360° *SEM 探测器 标准：透镜内电子探测器 (Inlens) 埃弗哈特-桑利探测器（ETD） 可选可伸缩式背散射电子探测器 (BSED) 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 (EBSD) *可选项 试样交换负载锁 轨迹球和旋钮控制面板 *用户界面 操作系统视窗 导航光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM3300 扫描电子显微镜（SEM）采用了 "超级隧道 "电子光学、镜头内电子探测器以及静电和电磁复合物镜等技术。通过将这些技术应用于钨丝显微镜，突破了此类扫描电子显微镜长期以来的分辨率限制，使钨丝扫描电子显微镜能够执行以前只有场发射扫描电子显微镜才能完成的低电压分析任务。 *突破钨丝扫描电镜的分辨率极限 *镜内电子探测器 *电磁和静电组合物镜 *使用更安全 *出色的扩展性