扫描电子场发射显微镜 SEM4000Pro

检查实验室用于材料分析

CIQTEK SEM4000Pro FESEM 显微镜规格 - 电子光学 分辨率：高真空 0.9 nm @ 30 kV，SE 低真空 2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa/1.5 nm @ 30 kV，SE，30 Pa 加速电压：0.2 kV ~ 30 kV 放大倍率（宝丽来）1 ~ 1,000,000 x 电子枪类型： 肖特基场发射电子枪肖特基场发射电子枪 - 试样室 低真空：最大 180 Pa 摄像头双摄像头（光学导航 + 样品室监控） XY 范围：110 毫米 Z 范围：65 毫米 T 范围：-10° ~ +70 R 范围：360° - SEM 探测器和扩展器 - 标准 标准：埃弗哈特-桑利探测器 (ETD) 低真空探测器 (LVD) 背散射电子探测器 (BSED) 可选项可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM） 能量色散光谱仪（EDS / EDX） 电子背散射衍射图样 (EBSD) 试样交换负载锁（4 英寸/8 英寸） 轨迹球和旋钮控制面板 - 用户界面 导航：光学导航、手势快速导航、轨迹球（可选） 自动功能自动亮度和对比度、自动对焦、自动定影器 CIQTEK SEM4000Pro 是一款分析型 FE-SEM 型号，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。其三级电磁透镜设计在 EDS / EDX、EBSD、WDS 等分析应用中具有显著优势。该型号标配低真空模式和高性能低真空二次电子探测器，以及可伸缩的背散射电子探测器，有利于观察导电性差或不导电的试样。