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- CIQTEK Co., Ltd.
扫描电子场发射显微镜 SEM4000X检查实验室用于材料分析
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产品规格型号
- 分类
- 扫描电子场发射
- 专业应用类型
- 检查, 实验室, 用于材料分析, 用于材料, 用于地质学, 电池
- 人体工学模式
- 直
- 显微镜镜筒
- 双目
- 观测技术
- 毫微秒示波器
- 配置
- 落地式
- 电子源
- 肖特基场发射
- 离子源
- 镓
- 探测器类型
- 背向散射电子, 镜头内SE, EBSD
- 选项和配件
- 电脑辅助, USB
- 其他特性
- 高解析度, 高精度, 高放大率, 超高解析度
- 倍率
1,000,000 unit
- 空间分辨率
0.9 nm, 1.2 nm, 1.9 nm
产品介绍
CIQTEK SEM4000X FESEM 显微镜规格
电子光学
分辨率： 0.9 nm@30 kV，SE
1.2 nm@15 kV，SE
1.9 nm@1 kV，SE
1.5 nm@1 kV（超光束减速）
1 nm@15 kV（超光束减速）
加速电压：0.2 kV ~ 30 kV
放大倍率（宝丽来）：1 ~ 1,000,000 x
电子枪类型： 肖特基场发射电子枪肖特基场发射电子枪
试样室
摄像头：双摄像头（光学导航 + 样品室监控）
平台范围X： 110 毫米
Y： 110 毫米
Z： 50 毫米
T: -10°~ +70°
R: 360°
SEM 探测器和扩展装置
标准：镜头内电子探测器：UD-BSE/UD-SE
Everhart-Thornley 探测器：LD
可选：背散射电子探测器 (BSED)
可伸缩扫描透射电子显微镜探测器（STEM）
低真空探测器（LVD）
能量色散光谱仪（EDS / EDX）
电子背散射衍射图样 (EBSD)
试样交换负载锁（4 英寸/8 英寸）
轨迹球和旋钮控制面板
超光束减速模式技术
CIQTEK SEM4000X 是一款稳定、多功能、灵活、高效的 FE-SEM。它能轻松应对各种类型样品的高分辨率成像挑战。它可以升级为超光束减速模式，进一步提高低电压分辨率。
# 高分辨率
# 多探测器技术
# 简化对准
# 采用高端平台制造
# 超光束减速模式技术
# 卓越的可扩展性
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Scanning Electron Microscope
* 显示价格为参考价，此价格不含税、不含运费、不含关税，也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。