X射线显微镜 ZEISS Xradia Ultra

实验室3D高解析度

同步辐射X射线纳米CT能够实现纳米级的无损三维成像，但您只能申请非常有限的线站机时。想象一下，如果不用等待同步辐射的时间，而且可以在自己的实验室里实现同步辐射实验，是多么理想的状态。有了蔡司Xradia Ultra系列产品，就意味着您拥有了一台可以提供同步辐射纳米级图像分辨率的高质量三维无损X射线显微镜（XRM）。该系列有蔡司Xradia 810 Ultra和蔡司Xradia 800 Ultra两种型号供您选择，它们均为您在最常用的应用中获得出色图像质量而量身定制。 在原生环境中无损成像 空间分辨率高达50 nm、体素尺寸低至16 nm的纳米级三维X射线成像 三维和四维原位实验 量化纳米结构并将数据用于建模输入 探索软硬材料 使用无损纳米级成像为您的研究助力 利用极为出色的无损成像，在原生环境下以三维方式观察纳米级现象。 这是一款填补亚微米级图像分辨率XRM（如蔡司Xradia Versa）和分辨率更高但具有破坏性的三维成像系统（如FIB-SEM）之间空白的设备。 使用集成的原位解决方案，在您的实验室就能进行图像分辨率高达50 nm、体素尺寸低至16 nm的先进的无损三维/四维X射线成像。 将这些特殊的功能添加到您的分析产品组合中，以加速您的研究。 实现出色的衬度和图像质量 在不破坏您样品的情况下，切片不会受伪影影响，以三维方式观察缺陷。 利用吸收和Zernike相位衬度，以出色的衬度和图像质量显示细节。将两种模式的数据相结合，能够显示出单一衬度无法实现的特征。 Xradia 810 Ultra和Xradia 800 Ultra旨在为您常用的应用提供出色的图像质量。您可以根据研究材料所需要的优化衬度、通量和材料透过率来选择适合您的版本。 使用Xradia Ultra，可获得具有同步辐射效果的纳米级X射线成像。 图片说明：Zernike相位衬度（ZPC）模式（左）和吸收衬度（右）下的松针的二维重构切片。