SEM显微镜 Phenom ParticleX AM

用于分析测量质量控制

如果您想通过更详细的分析和更精确的尺寸测量来提高添加剂粉末测试的质量和精度，Thermo Scientific Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可以为您提供帮助。对于粉末床和粉末供料的快速成型制造 (AM) 工艺，它可以帮助您分析金属粉末在微观尺度上的关键特性。此外，它还允许您同时处理多达 49 个样品。 但真正使该系统与众不同的是集成的 Thermo Scientific Perception 软件，它可以自动发现和识别碎屑、球形或细长颗粒以及其他颗粒，从而证明粉末的质量。然后，它将为您和您的团队提供简明的工业报告，将原始数据转化为清晰、公正的答案。 Phenom ParticleX AM 台式扫描电镜配有集成的能量色散 X 射线光谱仪（EDS），可进行高级成分分析。您还可以添加二次电子检测器 (SED)，该检测器可收集样品表层的低能电子，提供详细的表面信息。 概述 满足工业质量标准，信心十足 利用 Phenom ParticleX AM 台式扫描电镜，您可以分析颗粒的成分和尺寸以及形状参数（直径、周长、长宽比、粗糙度和费雷特直径）--所有这些都是在微观尺度上进行的，其精度远远高于其他技术。 行业领先的生产能力 Phenom ParticleX AM 台式扫描电镜具有快速生产能力，因此您可以利用显微镜完成更多工作，并延长生产周期。