电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜 Helios 5 DualBeam

用于材料研究3D高解析度

用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。具有先进的自动化功能，使用方便。可进行高质量的地下三维表征。 FIB 样品制备 新型 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 基于业界领先的 Helios DualBeam 系列的高性能成像和分析功能。它经过精心设计，能够满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）使用案例的需求--即使是在最具挑战性的样品上。 Helios 5 DualBeam重新定义了具有高材料对比度的高分辨率成像标准；快速、简便、精确的高质量样品制备，用于（S）TEM成像和原子探针断层扫描（APT），以及高质量的次表层和三维表征。新款 Helios 5 DualBeam 在 Helios DualBeam 系列成熟功能的基础上，又进行了其他改进，以确保该系统能够针对各种手动或自动工作流程进行优化。这些改进包括 -更易于使用：Helios 5 DualBeam 是最容易使用的 DualBeam，适合各种经验水平的用户。操作员培训可从数月缩短到数天，系统设计有助于所有操作员在各种高级应用中获得一致、可重复的结果。 -提高生产率：Helios 5 DualBeam 和 Thermo Scientific AutoTEM 5 软件具有先进的自动化功能、更高的坚固性和稳定性，可在无人值守甚至通宵操作的情况下显著提高样品制备的产量。