电子扫描显微镜 JSM-IT810

检查肖特基场发射EBSD

JSM-IT810 系列 FE-SEM 集多功能性和高空间分辨率于一身。 内置的无编码自动化成像和 EDS 分析功能可简化高效的工作流程。 新功能可确保为所有 SEM 用户提供高质量的数据和更好的用户体验。 这些功能包括 SEM 自动调整软件包、梯形校正功能（适用于 EBSD 测量）以及用于观察表面形貌的实时 3D 表面重建。 有了 JSM-IT810 系列，操作 FE 扫描电镜变得前所未有的简单。 只需设置分析条件和选择要测量的区域，即可自动进行 SEM 观察和 EDS 分析。 SEM 自动调整包（可选）：该功能使用专用样品来执行放大率校准、光束对准和 EDS 能量校准。选择我们的多分段半导体型 BSE 探测器，创建样品表面的实时三维重建，实时查看三维图像，检查样品拓扑结构。 新一代操作性消除了 SEM 观察和 EDS 元素分析之间的障碍。可在观察屏幕上直接预留点、区域、MAP 和线等各种分析方法，以便立即开始分析。