扫描电子场发射显微镜 Apreo ChemiSEM

用于分析用于检查非金属夹杂物质教学用

概述
Thermo Scientific Apreo ChemiSEM System是一款分析型扫描电子显微镜（SEM），在10 mm的分析工作距离下提供纳米级与亚纳米级分辨率。场发射枪（FEG）光源与先进光学系统可对束敏感材料、复合材料、磁性样品和纳米材料进行高分辨率成像，同时保持结构与成分相关联的集成分析能力。

集成分析功能
ChemiSEM技术将SEM成像与能谱（EDS）集成，提供实时、常开型的定量元素成图。系统还支持EBSD进行晶体学与取向分析，支持将形貌、元素与晶体学数据结合的多模态工作流程。

系统主要功能

• 场发射枪（FEG），用于纳米及亚纳米尺度的高分辨率成像。
• 分析工作距离：10 mm，针对集成SEM/EDS/EBSD性能优化。
• 集成EDS用于实时定量元素成图；支持EBSD进行晶体学分析。
• 自对准光学系统与SmartAlign技术，保持自动对准与成像就绪。
• Smart Frame Integration（SFI）在扫描过程中实时工作，动态调整探测器设置以获得高质量图像。
• 自动化功能包括自动对焦和自动消像散，减少手动调节并优化采集设置。
• 多种探测器选项：Everhart‑Thornley二次电子探测器、背散射电子探测器、阴极发光探测器以及适用于敏感样品的低真空选项。
• 电静态末级透镜，可选磁浸入以满足最高分辨率需求。
• 大型电动样品台，配备多样品夹具与快速抽真空，提升样品通量与操作员生产率。

应用领域
Apreo ChemiSEM System适用于材料科学与工业研发领域，包括复合材料、聚合物、纳米材料、催化材料、磁性样品及其他束敏感或带电样品的表征。低加速电压运行可实现对脆弱或带电样品的表面特性表征。

资源与媒体
可提供的资源包括可下载的宣传册、图片库以及介绍系统功能的产品介绍视频（预告片标题："Introducing the new Apreo ChemiSEM System"）。

注意
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.

特性 / 技术规格

• 商品名称：Apreo ChemiSEM System
• 制造商 / 品牌：Thermo Scientific
• 电子源：Field Emission Gun (FEG)
• 分析工作距离：10 mm
• 集成技术：SEM成像、EDS（能量色散X射线谱）、支持EBSD
• 通过ChemiSEM Technology实现实时定量元素成图
• 探测器：Everhart‑Thornley二次电子探测器、背散射电子探测器、阴极发光探测器、低真空选项
• 成像增强：Smart Frame Integration（SFI）、SmartAlign、自动对焦、自动消像散
• 光学：带可选磁浸入的电静态末级透镜
• 样品处理：大型样品台、多样品夹具、快速抽真空
• 适用样品类型：束敏感材料、聚合物、复合材料、磁性样品、纳米材料