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... 描述用于激光盲孔检测的AOI系统，最小可检测直径可达10 µm。Galaxy LV series为一系列机型，专为支持在大批量生产的先进HDI或IC基板上对激光盲孔进行检测而设计。该系列包含以下机型：
- Galaxy LV 10x：可检测最小直径10 µm的Via孔
- Galaxy LV 15x：可检测最小直径15 µm的Via孔
- Galaxy LV 20x：可检测最小直径20 µm的Via孔
- Galaxy LV 25x：可检测最小直径25
CIMS
... 描述
用于贯穿激光通孔检测的AOI系统，最小可检测直径可达20 µm。Galaxy VIA series为一系列机型，专为支持先进HDI或IC基板大批量生产中的贯穿激光通孔检测而设计。该系列包括以下机型：
- Galaxy VIA 20µ：可检测直径最小为20 µm的通孔
- Galaxy VIA 25µ：可检测直径最小为25 µm的通孔
- Galaxy VIA 30µ：可检测直径最小为30 µm的通孔
系统照明由ViaLight™技术驱动，提供集成在扫描台内的透射光源。可选的Microlight™顶灯可实现顶部同步照明，确保对贯穿通孔外形与内形进行最准确、最完整的采集。
Galaxy ...
CIMS
... 描述
Phoenix MDI（CIMS AOI系统）用于检测HDI和多层PCB上的机械钻孔。可检测直径低至150 µm的机械钻孔。Microlight™光学技术提供优化的照明覆盖，以满足严格的检测要求。通过将高质量图像采集与可定制的检测算法相结合，实现优化性能。配备先进的图像采集硬件和软件，Phoenix MDI实现了较低的误报率。Phoenix MDI由Spark™（跨平台检测引擎）驱动。
亮点
- 线性电机，实现平稳且静音的运动
- 坚固的机械结构
- 自动真空平台
- 高性能图像处理固件
- 强大处理器以处理大量数据
- 新任务快速且直观的设置
- 兼容前/后AMHS自动化或机器人
选项
- +2DM™
CIMS
... 通过人工智能增强视觉功能实现精确性和灵活性 nLine 检测系统可在持续生产或单个检测过程中分析各种产品，以确定其质量。在整个生产流程中，三台高速摄像机持续监控整个产品表面。偏差会被标记并记录在案。该系统有不同的版本，可满足各种要求。利用人工智能进行的分析和评估在边缘执行，无需连接到云环境，从而确保了最高的性能、最低的延迟和出色的数据安全性。 安装/设置和操作不需要任何专业培训或技术背景。产品功能通过 "Teach & Go "原则从主样本灌输到系统中。 nLine 检测解决方案的功能 nLine ...
... 表面缺陷检测仪--单视角 单镜头表面缺陷检测仪（SI1100）可以捕捉、分析和判断焊缝或棒材、胶带或型材等平面产品的表面。SI系列是目前最彻底的检测表面和尺寸缺陷的方法。 有了Taymer的表面检测仪，您就可以确保送到客户手中的产品符合您的高标准，没有表面缺陷。 SI系列有不同的相机配置，以适应您的具体要求。 减少表面缺陷 表面检测仪为操作人员提供任何生产线上的表面质量的达秒数字图像反馈。这种连续的实时信息流--特别是故障图像--使操作人员能够分离出表面和尺寸缺陷的原因。这一结果使您能够确定表面缺陷的原因，并防止客户投诉或拒绝。 质量保证 使用表面缺陷检测仪，你可以捕捉产品的图像，将图像保存到磁盘上，并打印出来，列入你的内部和客户的质量报告。表面检测仪的显示屏也使工程和生产主管人员很容易检查出缺陷。缺陷的位置也可以被记录下来，这将有助于以后对缺陷的进一步分析。 特点 ...
... 由于标签市场的高要求，100% 侦测系统变得越来越重要。出于对质量的高要求标准，导致在许多领域中，没有 100% 质量控制的产品，不允许被送到终端客户手中。这一障碍使许多印刷厂面临巨大挑战。 埃哈德+莱默尔凭借 SMARTSCAN 提供了一个创新的解决方案，检测能力甚至超过 100％。利用 200％ 侦测可以更加可靠地检测印刷错误、材料损坏和缺失标签。SMARTSCAN 不仅是标签市场的质量保证，也可用于检查其他印刷应用，例如包装印刷。此外，也可以检测未印刷的同质材料，例如纸张或铝箔。 SMARTSCAN ...
Erhardt + Leimer
... -检查材料卷筒上是否有孔 -测量孔洞大小（取决于型号） -可进行验证和自动 MSA -PDF协议、CSV数据导出 -组件基于以太网，可通过远程访问进行维护 ...
Erhardt + Leimer