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IC设备测试座 GD18-TO263-7-K-109-TEKB
用于晶体管轮廓Kelvin

IC设备测试座 - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC. - 用于晶体管轮廓 / Kelvin

IC设备测试座 - GD18-TO263-7-K-109-TEKB - JC CHERRY INC. - 用于晶体管轮廓 / Kelvin - 图像 - 2

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产品规格型号

应用: 用于IC设备, 用于晶体管轮廓
技术参数: Kelvin

产品介绍

TO-263-7/D2-PAK Scokets+Evaluation 测试板套件无需单独设计和采购插座和 PCB，节省时间 - 快速建立评估环境。 - 加快开发速度，减少原型设计的延误 - 支持开尔文连接，可进行精确测量 - 可根据要求进行定制设计和生产 PC 板尺寸：70 毫米 x 70 毫米 PC 板厚度：1.6 毫米额定电流：25°C 时 12A（漏极和源极之间）绝缘电阻：500MΩ（最小值绝缘耐压：AC2000Vrms 1 分钟，25°C（漏极和源极之间）温度范围：-55 至 +175°C

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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)