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... Smiths Interconnect 的摄氏触点利用稍长的信号路径，在合规性、温度处理和电流承载能力方面具有显著优势。 摄氏是一个独立的触点，仅为了满足负载板的要求而使用弹性体，不会重复循环。 这使得触点能够在更高（和更低）的温度下使用，而不会改变接触力或可靠性。 摄氏度也具有弹簧探头般的合规性。 在多站点应用程序中，这可能是一个优势，因为嵌套到嵌套的迪斯科舞会导致站点之间的产量差异。 产品稳定性 易于维护 设计灵活性 ...
Smiths Interconnect
... 用于外围集成电路的高性能磨擦触头技术 开普勒触头技术结合了悬臂触头的擦洗运动和弹簧探头的多功能性和模块化。该设计包括在设备向下冲程中的水平运动，以去除表面氧化物，提供稳定可靠的接触，并且不会对PCB造成损坏。 特点和优点 技术特点 -适用于测试LGA、 QFN、QFP和其他变体 -刮擦动作可击穿器件焊盘上的表面氧化物 -信号路径短 -三温区插座设计，支持 -55 °C 至 +150 °C -可配置的设计灵活性，可集成到现有硬件设置中 -专为手动测试、台架测试和HVM生产测试而设计 -绝缘体外壳由高性能聚酰亚胺制成 ...
Smiths Interconnect
... 它的高带宽和低电感功能使其在测试系统中不可见，从而避免了球对被测设备（DUT）的损坏，并提供了无与伦比的电气和机械优势。Levan 提升了从工程要求到大批量生产的测试标准，确保了多功能性和成本效益。它是 BGA、LGA、 QFN 和其他变体的最佳测试解决方案。 特性和优势 产品特点 - 适用于 BGA、LGA、 QFN 和其他变体的解决方案 - 射频带宽 > 23-108 GHz @ -1dB IL - 短信号路径 ≤ 0.9 mm - ...
Smiths Interconnect
... 它的高带宽和低电感能力使其在测试系统中不可见，从而避免了球对被测设备（DUT）的损坏，并提供了无与伦比的电气和机械优势。Levan 提升了从工程要求到大批量生产的测试标准，确保了多功能性和成本效益。它是适用于 BGA、LGA、 QFN 和其他变体的绝佳测试解决方案。 产品特点 - 适用于 BGA、LGA、 QFN 和其他变体的解决方案 - 射频带宽 > 23-108 GHz @ -1dB IL - 短信号路径 ≤ 0.9 mm - ...
Smiths Interconnect
... 。致力于支持定制、按需制造的IC插座，以满足精确需求。 - 应用示例： - 电子罗盘的精密测试 - 霍尔IC的特性评估 - MR/MI传感器的磁影响测试 - 对磁场敏感的高精度检查 - 支持的封装类型：SOP、QFP、SON、 QFN、LGA、BGA、WLCSP等 - 相关产品： - 非磁性技术：由专门的低磁化合金制成的非磁性探针，以最大限度地减少干扰。非常适合霍尔传感器、MR/MI设备和其他对磁场敏感的组件。 - 非磁性探针卡：由非磁性材料制成，确保在必须消除磁场的环境中进行精确 ...
... 为您的检测环境提供理想的灵活性和性能组合。 应用示例： - 晶体管 - SON - SOP - QFN - QFP封装 - 功率模块 特性/技术规格： - 每个端子的高电流容量：高达75A（金属外壳） - 标准和金属外壳选项的端子 - 可定制的单独信号提取（发射极/栅极） - 通用HC-C块：每块高达400A，每块8个端子 - 支持的间距：0.3mm（25A树脂/40A金属），0.4mm（50A树脂/75A金属） - 适用于功率模块、晶体管、SON、SOP、 QFN、QFP封装 - ...
... 最高频率可达 40 GHz。 由于触点嵌入整个表面，射频测试插座可用于各种集成电路器件，甚至是不规则的引脚位置。 特点 - 用于器件评估 - 适用于各种器件类型 - 尺寸小 - 良好的高频响应 - 交货时间短 [可接受的器件类型］ BGA、LGA、 QFN、QFP 等 ...
JC CHERRY INC.
... 测试和预烧插座 尺寸 也可用作预烧插座 作为接触部件的高可靠性 M 引脚探头 高频率 用于 BGA 器件、 QFN 器件 0.4mm/0.016" 间距：最大 16x16 触点 0.5mm/0.020" 间距：最大 10x10 触点 电流速率 - 触点电阻 触点电阻 绝缘电阻 绝缘电阻 工作温度 间距 可接受的器件 可接受的器件尺寸 我们接受除此以外的集成电路器件脚型和厚度。 ...
JC CHERRY INC.
... 测试插座 GU29 框架 / QFN 套件 尺寸 29x30.6mm / 1.14 "x1.20" 也可用作烧入插座 可靠性高 具有成本竞争力 温度： 适用于 QFN 器件 如何订购定制设计 GQ29-QFNxxxxxxxxx *P/N 将在确定规格后通知。 *定制 ...
JC CHERRY INC.
... 非浮动基础测试插座通常用于测试 QFN 和其他无引线设备。 它们采用两件式设计，可容纳插座底座和 DUT 口袋之间的弹簧销或弹性接触集。 ...