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... Smiths Interconnect 的摄氏触点利用稍长的信号路径，在合规性、温度处理和电流承载能力方面具有显著优势。 摄氏是一个独立的触点，仅为了满足负载板的要求而使用弹性体，不会重复循环。 这使得触点能够在更高（和更低）的温度下使用，而不会改变接触力或可靠性。 摄氏度也具有弹簧探头般的合规性。 在多站点应用程序中，这可能是一个优势，因为嵌套到嵌套的迪斯科舞会导致站点之间的产量差异。 产品稳定性 易于维护 设计灵活性 ...
Smiths Interconnect/史密斯英特康
... 用于外围集成电路的高性能磨擦触头技术 开普勒触头技术结合了悬臂触头的擦洗运动和弹簧探头的多功能性和模块化。该设计包括在设备向下冲程中的水平运动，以去除表面氧化物，提供稳定可靠的接触，并且不会对PCB造成损坏。 特点和优点 技术特点 -适用于测试LGA、QFN、QFP和其他变体 -刮擦动作可击穿器件焊盘上的表面氧化物 -信号路径短 -三温区插座设计，支持 -55 °C 至 +150 °C -可配置的设计灵活性，可集成到现有硬件设置中 -专为手动测试、台架测试和HVM生产测试而设计 -绝缘体外壳由高性能聚酰亚胺制成 ...
Smiths Interconnect/史密斯英特康
... 它的高带宽和低电感功能使其在测试系统中不可见，从而避免了球对被测设备（DUT）的损坏，并提供了无与伦比的电气和机械优势。Levan 提升了从工程要求到大批量生产的测试标准，确保了多功能性和成本效益。它是 BGA、LGA、QFN 和其他变体的最佳测试解决方案。 特性和优势 产品特点 - 适用于 BGA、LGA、QFN 和其他变体的解决方案 - 射频带宽 > 23-108 GHz @ -1dB IL - ...
Smiths Interconnect/史密斯英特康
... 它的高带宽和低电感能力使其在测试系统中不可见，从而避免了球对被测设备（DUT）的损坏，并提供了无与伦比的电气和机械优势。Levan 提升了从工程要求到大批量生产的测试标准，确保了多功能性和成本效益。它是适用于 BGA、LGA、QFN 和其他变体的绝佳测试解决方案。 产品特点 - 适用于 BGA、LGA、QFN 和其他变体的解决方案 - 射频带宽 > 23-108 GHz @ -1dB IL - ...
Smiths Interconnect/史密斯英特康
... 测试和预烧插座 尺寸 也可用作预烧插座 作为接触部件的高可靠性 M 引脚探头 高频率 用于 BGA 器件、QFN 器件 0.4mm/0.016" 间距：最大 16x16 触点 0.5mm/0.020" 间距：最大 10x10 触点 电流速率 - 触点电阻 触点电阻 绝缘电阻 绝缘电阻 工作温度 间距 可接受的器件 可接受的器件尺寸 我们接受除此以外的集成电路器件脚型和厚度。 ...
JC CHERRY INC.
... 我们还有以下产品系列。 - 闩锁和螺锁型 - 旋转杆型 - 螺钉型 可以看出，使用传统插座和直接接触插座时，特性都有所改善。 由于只需从上方按下盖子即可安装和拆卸，因此可以高效地更换装置。 从设备设置到测量准备，无需进行扭矩管理。 ・ 拥有符合 QFN/SOP 器件尺寸的标准产品阵容。 可在短时间内交货。 ...
JC CHERRY INC.
... 测试插座 GU29 框架 / QFN 套件 尺寸 29x30.6mm / 1.14 "x1.20" 也可用作烧入插座 可靠性高 具有成本竞争力 温度： 适用于 QFN 器件 如何订购定制设计 GQ29-QFNxxxxxxxxx *P/N 将在确定规格后通知。 *定制 ...
JC CHERRY INC.
... Electronics Corp. 的 LPDDR 插座支持 0.4 毫米间距和 0.25 毫米焊球直径，可通过左右闩锁轻松安装和拆卸。拧上上螺母，测量装置就准备就绪。 我们接受根据您的设备和使用条件量身定制的设计。 * 请确认 LGA 和 QFN 器件封装的集成电路底面是否有凹陷。 SC 型（标准规格） 螺钉型 强调接触性 AP 型盖子 始终加压型 强调操作性，同时确保 一动性和接触性 RD 型盖子 刚性型 强调经济性 装置 ...
JC CHERRY INC.
... 定制测试接触器，间距尺寸 ≥ 0.30 mm 盖板易于关闭 温度范围更广 接触力（典型值）：15 至 25 克 性能卓越 实验室应用 适用于 HAST、HTOL、预烧或任何其他可靠性测试 可选：序列号和数据矩阵代码 配对周期 50,000 工作温度范围 -55 °C - 150 °C (初始）接触电阻 50 毫欧 额定电流 1.2 A 间距 0.25 ...
Yamaichi Electronics
... 定制测试接触器，间距尺寸 ≥ 0.25 mm 手动或自动应用 接触力（典型值）介于 15 克至 35 克之间 性能卓越 高频功能 开尔文和非开尔文解决方案 适用于任何应用，如故障分析、ATE 和硅验证 配接周期 500,000 工作温度范围 -55 °C - 150 °C (初始）接触电阻 50 毫欧 额定电流 1.2 A 间距 0.25 ...
Yamaichi Electronics
... 非浮动基础测试插座通常用于测试 QFN 和其他无引线设备。 它们采用两件式设计，可容纳插座底座和 DUT 口袋之间的弹簧销或弹性接触集。 ...
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