QFN测试座

WLCSPQFPSOP

Seiken的非磁性IC插座旨在在各种设备封装中提供稳定、无干扰的测试，包括有引脚、无引脚和球形端子类型。即使是极小的芯片，包括那些小于1mm²的芯片，这些插座也能确保精确和可靠的接触，即使在磁敏感环境中也能保持准确性。凭借灵活且高度适应的设计，非磁性插座几乎可以容纳任何形状和大小的设备，最大限度地减少磁场的影响并最大化测试性能。 - 主要特点和优势： - 实现高精度、非磁性测试：通过在整个插座结构中使用特别选择的非磁性材料，Seiken大大减少了外部磁干扰，使这些插座非常适合需要无妥协测量精度的应用。特别适合测试敏感组件，如电子罗盘、霍尔IC和MR/MI传感器。 - 对细间距和特殊设备的灵活支持：先进的探针针脚阵列即使对于具有细间距端子和非常规布局的设备也能实现安全、精确的接触。经过验证的记录包括支持小于1mm²的设备。 - 定制解决方案——从设计到组装：Seiken在内部处理过程的每个步骤，从初始设计到制造和最终组装，确保一致的质量和对每个细节的严格控制。每个插座都是根据设备规格和测试环境量身定制的。 - 原型和小批量生产可用：无论是开发原型还是准备低量生产，Seiken都提供从一个单元开始的灵活小批量制造。致力于支持定制、按需制造的IC插座，以满足精确需求。 - 应用示例： - 电子罗盘的精密测试 - 霍尔IC的特性评估 - MR/MI传感器的磁影响测试 - 对磁场敏感的高精度检查 - 支持的封装类型：SOP、QFP、SON、QFN、LGA、BGA、WLCSP等 - 相关产品： - 非磁性技术：由专门的低磁化合金制成的非磁性探针，以最大限度地减少干扰。非常适合霍尔传感器、MR/MI设备和其他对磁场敏感的组件。 - 非磁性探针卡：由非磁性材料制成，确保在必须消除磁场的环境中进行精确、无干扰的测量。 - 探针夹具（定制测试夹具）：在电子元件测试中进行精密探测的必要工具。确保完美对齐和稳定接触，无论是使用标准格式还是完全定制设计。 - 技术规格 / 特点： - 非磁性结构以减少磁干扰 - 支持有引脚、无引脚和球形端子设备封装 - 兼容极小的芯片（小于1mm²） - 灵活、量身定制的设计适用于各种形状和大小 - 提供原型和小批量生产 - 应用：电子罗盘、霍尔IC、MR/MI传感器等 - 支持的封装类型：SOP、QFP、SON、QFN、LGA、BGA、WLCSP等