IC设备测试座

Kelvin直接接触式

Seiken的开尔文IC插座旨在简化四端子（开尔文连接）测量，提供高度精确的低电阻测试，超越传统方法的极限。设计支持超小型芯片，包括小于1mm²的芯片，这些插座非常适合当今日益小型化和高密度的集成电路。 开尔文测量需要专业的夹具设计，Seiken提供完整的端到端支持，从定制夹具设计到全面制造，确保绝对整合到您的测试环境中。 - 灵活的引脚布局以满足复杂的测试需求：与传统插座不同，Seiken的开尔文IC插座允许完全可定制的引脚布局，只要满足间距条件。无论是在每个芯片之间测量100到1000个电极，还是进行多芯片同时测量，这些解决方案都提供了适应广泛高级测试要求的灵活性。 - 易于更换引脚和出色的可维护性：Seiken保持与所有IC插座相同的引脚更换简便性，确保简单的维护并最大限度地减少停机时间。小批量生产可从一个单位开始，开尔文插座非常适合原型开发和低量制造。 应用示例： - WL-CSP - QFN - SON - 离散组件等 相关产品： - 开尔文测量技术：专利的开尔文探针能够在细间距电极上进行超精确的低电阻测量。双点接触可接近0.1mm，确保稳定的连接性、卓越的耐用性和无与伦比的下一代设备精度。 - 开尔文探针卡：采用四端子感应方法，这些卡处理超细间距，同时确保精确的电阻测量。支持从0.35mm开始的细间距，终端间隙仅为0.1mm，确保高精度应用中的最佳性能。 - 探针支架（定制测试夹具）：也称为引脚块，探针支架是电子元件测试中精确探测的关键。这些支架确保完美的对齐和稳定的接触，无论是使用标准格式还是需要完全定制的设计。 技术规格/特点： - 支持四端子（开尔文）测量以进行高度精确的低电阻测试 - 兼容超小型芯片（小于1mm²） - 可定制的引脚布局以进行复杂和高密度测试 - 易于更换引脚和高可维护性 - 小批量生产可用（从一个单位开始） - 非常适合原型开发和低量制造