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测量范围: 0 mm - 12 mm
分辨率: 0.1 µm
重量: 32 kg
... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米（标准），0 〜 6 毫米，12 毫米（可选） -分辨率：0.1 ...
测量范围: 1.5 mm - 3 mm
测量精度: 3 µm - 6 µm
测量频率: 20 Hz - 5,000 Hz
... 产品概述
capaNCDT DTV 系统采用电容式位移传感器进行非接触制动盘厚度偏差（DTV）测量。系统支持旋转制动盘的同步多轨测量，可用于试验台/车载测试，并提供便携 DTV 测量箱用于现场质量检测和保修检查。
主要应用
- 试验台质量控制
- 车载道路测试与研发
- 维修车间检查与保修核查
- 制动系统的开发与耐久性测试
传感器方案（CSH1,4FL）
CSH1,4FL ...
MICRO-EPSILON
测量精度: 0.2 µm
测量频率: 100 Hz
分辨率: 10 nm
... 产品概述
TFG6220 电容式系统用于高精度测量导电薄膜（例如电池薄膜）的厚度。外部真空装置将样品吸附并拉平，以提供无皱的参考面。系统为预装配设计，适用于离线随机抽样的质量检验，便于快速部署使用。
测量功能
- 通过真空平整薄膜以消除褶皱并确保可重复的定位
- 测量支架配备上下两只电容传感器及集成测量插件以便于参考定位
- 通过 sensorTOOL（网页界面）进行数据采集与可视化
应用
适用于导电薄膜厚度的离线快速检测，用于质量控制和工艺监测，例如电池薄膜。
特性 ...
MICRO-EPSILON
测量范围: 15 mm
测量精度: 1.2 µm
测量频率: 500 Hz
... 概述
thicknessGAUGE 3D 是一款用于带材和板材的在线轮廓评估及 3D 厚度测量的传感器系统。系统在刚性框架上安装两台红光激光轮廓传感器，采集上、下表面轮廓并生成单独轮廓以及组合的 3D 点云，以便自动化分析。
应用
用于涂层边缘、焊缝、线材轮廓的在线测量及生产线上的厚度监控。
主要特性
- 传感器类型：激光轮廓传感器（红光激光）
- 同时采集上、下表面轮廓
- 在线
MICRO-EPSILON
测量精度: 0.2 µm - 0.2 µm
测量宽度: 0 mm - 1,250 mm
... 概述
thicknessGAUGE O.IMS 是用于隔膜涂层及电池涂层在线厚度测量的紧凑型传感器系统。该系统采用紧凑 O 型框架设计，使用穿透薄膜的白光干涉仪实现单侧非接触测量。两个传送滚轮用于稳定薄膜以保证测量可靠性。
测量模式与适用性
系统可在横向扫描（traversing）或定轨测量（例如中心线或边缘厚度）模式下运行。适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜，可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。
软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元（含电机控制）、紧凑型总线端子盒、自动校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC ...
MICRO-EPSILON
测量范围: 3.6 mm - 7 mm
测量精度: 0.3 µm - 0.5 µm
测量宽度: 0 mm - 800 mm
... 概述
Micro-Epsilon 提供多种用于涂布线的厚度测量系统，可满足不同的需求与应用场景。thicknessCONTROL C 型支架专为干涂层等苛刻环境设计。其坚固的框架和集成温度补偿可在较高环境温度下仍保证高测量精度。系统可根据应用定制，支持不同薄膜宽度并最多扩展至 8 条测量通道。
主要特点
- 用于涂覆阳极/阴极薄膜的高精度厚度测量系统
- 传感器技术：光谱共焦（confocal）传感器
- 适用于干涂层过程的厚度测量与控制
- 坚固设计，具有集成温度补偿
- 厚度测量范围起始约
MICRO-EPSILON
测量范围: 2.5 mm
测量精度: 0.4 µm
测量频率: 1 Hz - 10,000 Hz
... 概述
thicknessGAUGE 传感器系统用于在线测量带材的厚度。针对具有不同表面特性的薄膜厚度测量，提供多种型号，具有不同的传感器类型、测量范围和测量宽度。该系统采用两个距离传感器，可高精度检测带材厚度。传感器相互精确对准并已在出厂时校准。通过线性轴可移动 thicknessGAUGE 传感器系统，以测量整个带材宽度上的厚度。其极其紧凑的结构便于在狭小的安装空间内集成。
使用与变体
thicknessGAUGE 可用于固定轨测量，例如中心线（中心厚度）或边缘厚度测量。作为替代，传感器系统也可用于横向（traverse）厚度测量。由于其多功能性，thicknessGAUGE ...
MICRO-EPSILON
测量范围: 0.05 µm - 75 µm
重量: 2.5 kg
... 产品概述
GalvanoTest是一款基于库仑法（阳极溶解除去）的镀层厚度测量仪，适用于测量铬、镍、镉、铜、黄铜、银、金、锡、锌等多种镀层，适用金属和非金属基材。通过控制电解溶解除去过程，测量电流与时间以计算镀层厚度。
产品信息
GalvanoTest以GalvanoTest 3000型号提供：配备循环泵和大容量电解液，适合快速批量测量，尤其适用于极小零件和金层测量。型号2000已停产。校准因子和测量设置可根据金属类型和测量面直接调整。
适用
- 对金属与非金属基材上的电镀层（如Cr、Ni、Cd、Cu、黄铜、Ag、Au、Sn、Zn）进行破坏性测量。
测量原理
- 库仑法/阳极溶解除去（法拉第定律）：电解液与电流使金属层溶解，测得的电荷用于计算厚度。
特性
- 8档剥离速度，约0.3–40
测量范围: 10 µm - 6,900 µm
测量宽度: 5 mm
分辨率: 0.1 µm
... 产品概要
采用超声波进行非破坏性测量，可在一次操作中测量多达8层涂层。便携式设备，传感器集成32位处理（SIDSP®），8英寸A‑scan显示，坚固外壳（IP67、MIL‑STD 810 G）及耐刮擦Gorilla®玻璃。测量范围最高6900 µm。
产品说明
QuintSonic T 可在一次操作中测量多达八层涂层。可测量聚合物涂层（油漆、清漆、塑料）以及玻璃、陶瓷或金属涂层，适用于几乎任何基材。精确且易操作，QuintSonic T 支持常见涂层体系，例如：
- 塑料上的漆
- 木材上的塑料
- 金属上的玻璃
- 等多种体系
QuintSonic ...
测量范围: 0.05 µm - 75 µm
... 产品说明
采用库仑计（阳极剥离）法测量镀层厚度，适用于钢、非铁金属和绝缘基材上的单层或多层镀层（如钢上的镍、钢上的锌、铜上的锡、铜上的银、环氧上的铜等）。GalvanoTest 在不损伤基材的情况下提供准确的层厚值。仪器为微处理器控制，操作简便，培训需求低。
测量原理
基于法拉第定律，GalvanoTest 对被测镀层的特定区域进行电解溶解除去。测量电池内装有针对特定镀层/基材组合的电解液，置于样品上并由垫圈（例如 8 mm2、4 mm2）密封。受控电流使镀层溶解；出现特征电压变化时自动停止，厚度以 ...
测量范围: 0 µm - 2,000 µm
重量: 850 g
... 概述
PAINT BORER 518 USB 是一款便携式涂层厚度测量仪，按标准化楔形切割法工作。设备集成50倍高分辨率数码显微镜、可调照明和2 MP CMOS传感器。通过USB连接PC/笔记本/WINDOWS平板，配套软件可实现试样图像的采集、测量与数字化存档。
结构与设计
仪器为紧凑耐用的外壳设计，内置钻孔装置、数码显微镜、样品照明和电源。水平滑动的滑座承载钻头和显微镜，钻孔后无需移动整机。钻头弹簧安装，按压即自动启动；可更换的硬质合金钻头具有规定切削角，可覆盖三种标准测量范围。照明支持连续或间歇（3档亮度）模式。采用9V可充电电池供电，也可使用随附电源适配器进行市电供电。
操作
- 在测试点做对比标记并将仪器置于样品上
- 将钻头移至标记处并下降，钻透涂层至基材
- 将显微镜移至孔上并开启照明以观察截面
- 在PC显示屏上使用光标标记孔心和可见层界线进行测量
软件与连接
USB ...
测量范围: 10 mm - 300 mm
测量精度: 10 µm
... MICROTECH 亚微米计算机测厚仪，测量范围可达 300 毫米（0-12 英寸），深度可达 800 毫米。主要测量范围为 10 20 25 50 100 150 300 毫米。 计算机化 MICS 测厚仪测量系统具有以下功能： -带统计模式的内部存储器 -彩色 GO/NoGo 指示（限值） -峰值功能（最小/最大） -计时器（读取存储器或数据传输） -公式-计算指示器 Ax2+Bx+C -分辨率选择（0.1 / 1/ 10 微米） -毫米/英寸选择 -温度补偿 -数学误差补偿 -无线数据传输至 ...
MICROTECH
... MICROTECH 可根据大多数实际标准生产不同基座和测量面的软质材料厚度测量仪。 软质材料测厚仪可配备带预设功能的数字微米指示器，用于根据 ASTM D1777、ASTM 3767、DIN 53370、DIN EN 1849、ISO 3034、ISO 4593、ISO 23529 和其他标准测量织物、薄膜、橡胶、铂箔、板材。 也可配备亚微米级计算机指示器，内置自动定时功能，可保存数据，用于精确测量皮革、纺织品、土工合成材料和织物的厚度，符合 ASTM D5199、ISO 2286、ISO 2589、ISO ...
MICROTECH