半导体测试系统

10 个企业 | 26 个产品
平台入驻

& 任何时间、任何地点都可以与客户联系

平台入驻
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
半导体测试系统
半导体测试系统

... 当今的模拟和功率半导体技术(包括 GaN 和 SiC)要求进行参数测试,以便最大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及最大限度降低测试成本。40 多年来,吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战,这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类(例如,晶片验收或已知的良好芯片测试),以及可靠性。 带有 KTE 7 软件的吉时利 S530 系列参数测试系统提供高速、完全灵活的配置,能够随着新应用的出现和需求变化而不断发展。S530 可进行高达 200 V 的测试,而 S530-HV ...

性能测试系统
性能测试系统
VIP Ultra

... 概述
VIP Ultra 由 Cosmic 推出,是面向功率半导体(Si、SiC、GaN)高吞吐量测试的新一代自动测试设备(ATE)。为无尘室集成设计,支持从 48 测试站(80 V / 250 A)并行扩展到 16 测试站(4 kV / 250 A),可执行直流和能量应力测试套件,同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。

主要优势

  • 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
  • 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
  • 占地极小,便于与探针台和处理设备集成

产品概述
VIP ...

查看全部产品
Cosmic Equipment S.p.A.
电子工业测试系统
电子工业测试系统
DMT EVO

... 产品概述
DMT EVO 是一款紧凑型混合信号与数字自动测试设备(ATE),用于在研发、实验室、试产前与量产后阶段对集成电路进行高效的表征与验证。模块化主框架支持最多 5 个插槽,可将电源、数字模块、AWG/数字化仪和测量单元组合为一体化且可扩展的平台。系统通过直观的图形化界面控制,并配备 Kronos 自动生成优化测试程序。

主要优势

  • 占地面积极小,在有限空间内实现高密度资源集成,适合实验室与试产环境。
  • Kronos
...

查看全部产品
Cosmic Equipment S.p.A.
性能测试系统
性能测试系统
HATINA GP

... 产品概述
HATINA GP 是一款面向智能功率 IC 与 SoC 的自动测试设备(ATE)平台,专为高并行度的特性验证与量产测试设计。系统采用模块化主框架,最多可配置 10 个插槽,集成模拟/电源、数字通道与高阶测量仪器,具备紧凑与能效优势。通过图形化界面进行控制,Kronos 软件支持测试程序的自动生成,加速开发与量产部署。

关键能力
HATINA GP 支持每插槽灵活组合仪器:高速数字通道、高电流 DC 电源与精密测量单元。模块化主框架便于扩展与维护。每个插槽的资源示例包括高速数字 ...

查看全部产品
Cosmic Equipment S.p.A.
冲击电压测试系统
冲击电压测试系统
PST6747Ai series

... 产品概述
PST6747Ai 系列为半导体测试系统,用于精确测量与分析功率半导体器件的静态参数。标配支持 3 kV(可选 10 kV)与 2200 A,支持快速脉冲操作与 fA 级电流检测,可用于 IGBT、GaN、SiC 等现代器件的表征。

型号

  • PST6747Ai:高精度,面向研发;测试报告包含详细的特性曲线与参数。
  • PST6747Ai-F:高精度,适用于出厂交付前的产品测试;报告可用于用户手册。
  • PST6747Ai-L:标准精度,适用于来料/供应商测试;报告与厂商报告相似,便于对比。

模块化设计与硬件
该系列采用模块化设计,配备独立的高精度电源模块,例如 ...

霍尔测试系统
霍尔测试系统
DX-300

... DX-300自动霍尔效应测试系统是一款电磁式全自动测量平台,用于半导体与导电材料的表征,通过自动化Van der Pauw/Hall测量和数据分析获取电学与磁输运参数。

主要特点

  • 自动计算实验结果:体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等。
  • 集成硬件:电磁铁及电源、高精度恒流源、高精度电压表、System SourceMeter、矩阵卡、霍尔样品夹、3D微探针台、视频显微镜、标准样品。
  • 一键自动测量与自动Van
...

霍尔测试系统
霍尔测试系统
DX-1000T

... 该仪器系统包括:电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦、温度控制器和系统软件。 可测试材料: - 半导体材料:SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe 和铁氧体材料等; - 低阻抗材料:石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁半导体材料、TMR 材料等; - 高阻抗材料:半绝缘砷化镓、氮化镓、碲化镉等。 技术指标 - 磁场:10mm 间距为 2T,30mm 间距为 1T; - 采样电流:0.05uA~50mA(可调 ...

电阻率测试系统
电阻率测试系统
DXHCR1100

... 产品概述
Dexinmag设备基于塞贝克、珀耳帖、汤姆孙等热电效应,可在室温(RT)至1500°C范围内同时测量塞贝克系数与电阻率。热电势(塞贝克系数)以V/K表示,随温度变化。DXHCR1100平台支持受控气氛与多种样品形状,适用于研发与质量控制场景。

应用领域

  • 热电材料开发:测量半导体、skutterudite等热电材料的塞贝克系数与电导率;计算ZT并在高温(最高1500°C)或受控气氛(真空/还原/氧化)下评估性能。
  • 电子与功能材料表征:研究半导体薄膜、导电高分子、金属氧化物的电输运特性;高温超导体与陶瓷基复合材料的电阻‑温度曲线测量。
  • 能源材料与器件研究:锂离子电池电极与固体电解质的电阻率及界面接触特性分析;燃料电池催化剂在不同气氛下的导电性能测试。
  • 工业质量控制与工艺优化:对合金、陶瓷、碳材料进行热电性能测试以指导烧结;在模拟工况下评估高温涂层与耐腐蚀材料的电学行为。
  • 科研与标准化检测:适用于高校与科研机构开展热电效应基础研究及按标准(如ASTM
...

机械振动测试系统
机械振动测试系统
ES-10

... 电动式振动试验系列广泛适用于国防、航天、通讯、电子、汽车、家电等行业。该类型设备用于发现早期故障,模拟实际工况考核结构强度试验,产品应用范围广泛、适用面宽、试验效果显著、可靠。 产品优势 ◆产品性能优良、品种齐全,可根据客户的需求定制、价格优惠。 ◆独立自主的产品研发,严格的工艺要求,美观的外形。 ◆重要部件采用著名品牌的进口件。 ◆公司有健全的质量保证体系。 性能参数 ◆产品名称:电磁式垂直水平振动试验台(1~200hz) ◆功能:正弦波、调频、扫频、可程式、调幅、最大加速度、时间控制、 ◆垂直、水平工作台面尺寸l*h*w:450×450×46mm ◆振动方向:垂直、水平 ◆最在试验负载(kg):40 ◆隔离磁场功能:镁合金材质的面板可完全隔离磁场 ◆调频功能:在频率范围內任一扫频 ◆扫频功能(hz):(上频率/下频率/时间范围)可任意设定真正标准来回扫频 ◆可程式功能(hz):30段每段可任意设定(频率/时间)可循环 ◆振动机功率(kw):4.2 ◆振幅(可调范围mmp-p):0~4mm ◆最大加速度:10g ◆振动波形:正弦波 ◆时间控制:任何时间可设(秒为单位) ◆电源电压(v):380±10% ◆精密度:频率可显示到0.01hz,精密度0.1hz ...

实验室测试系统
实验室测试系统
MX710D SiC

... 产品介绍
MX710D系列SiC实验室动态测试系统由高精度可编程直流电源、治具单元、测量控制单元、驱动控制单元、保护单元以及配套测试仪器等组成,采用公司自主开发的系统测试软件,为碳化硅器件动态特性参数提供一个稳定、精确的测试平台,用于检验SiC器件的动态参数特性,包含开启特性、关断特性、二极管反向恢复特性和短路特性。

产品特点

  • 实验室应用场景,测试功能齐全,支持单脉冲、双脉冲、短路测试;
  • 具备过流保护功能,在器件发生失效时,快速关闭电流回路;
  • 寄生电感极低,通过精巧的设计,实现测试回路寄生低感,以满足SiC器件的测试;
  • 兼容性高,通过匹配不同的设备配置、测试治具,可实现各类器件、电路的模块与模组测试;
  • 人机界面友好,操作简单便捷。

产品界面 ...

电子工业测试系统
电子工业测试系统

... 系统特点: - 基于STS8200的IPM测试包 - 测试规格:直流2000V/100A,动态交流200A。 - 支持静态和动态参数测试 - 可编程双脉冲和多脉冲 TRR/IRR/TRI/TFV/TON/TCON/EON/TFI/TRV/TOFF/TCOFF/EOFF等。 - 短路电流测试 ISC、TSC等。 - 可编程过流保护 - 支持菜单驱动的编程 ...

电子工业测试系统
电子工业测试系统
PMST

... 普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的静态参数,具有高电压和大电流特性、μΩ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。 普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统配置有多种测量单元模块,模块化的设计测试方法灵活,能够极大方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。 产品特点 ● 高电压达3500V(最大扩展至10kV) ● ...

查看全部产品
Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
实验室测试系统
实验室测试系统
IP750Ex-HD

... IP750Ex-HD为当前和未来的设备提供图像传感器测试能力,同时提供最低的测试成本。 - 为当前和下一代设备设计的先进图像传感器测试系统。 - 优化以实现高吞吐量和低测试成本。 - 支持广泛的图像传感器技术和配置。 - 灵活的架构以适应不断变化的设备需求。 - 专为生产环境中的可靠性和可扩展性而设计。 优势和配置: - 高密度引脚电子设备用于并行测试。 - 可配置的测试资源以满足设备需求。 - 用于测试开发和数据分析的综合软件工具。 - 与自动处理系统的无缝集成。 典型应用: - CMOS和CCD图像传感器的测试。 - ...

查看全部产品
Teradyne
电动测试系统
电动测试系统
MP5000

... 概述
Tektronix MP5000 模块化精密测试系统在设计之初便为扩展升级做好准备。今日可混搭 SMU 与 PSU 模块,后续可按需扩展。凭借高通道密度与快速模块更换能力,该系统能最大限度减少停机时间并提升吞吐量,适用于从验证到量产的多种测试场景。

产品亮点

  • 高通道密度:单台 1U 主机最多支持 6 个独立通道
  • 模块化:在同一主机中混搭 SMU(源测量单元)与 PSU(电源)模块
  • 热插拔与快速更换:简化模块拆装,缩短维护停机时间
  • 独立插槽电源控制:避免整机停机以维护单个模块
  • 仪器端脚本处理(TSP):在仪器上执行脚本以加速自动化并降低
...

平台入驻

& 任何时间、任何地点都可以与客户联系

平台入驻