实验室测试系统 MX710D SiC

用于半导体现场精准

产品介绍
MX710D系列SiC实验室动态测试系统由高精度可编程直流电源、治具单元、测量控制单元、驱动控制单元、保护单元以及配套测试仪器等组成，采用公司自主开发的系统测试软件，为碳化硅器件动态特性参数提供一个稳定、精确的测试平台，用于检验SiC器件的动态参数特性，包含开启特性、关断特性、二极管反向恢复特性和短路特性。

产品特点

• 实验室应用场景，测试功能齐全，支持单脉冲、双脉冲、短路测试；
• 具备过流保护功能，在器件发生失效时，快速关闭电流回路；
• 寄生电感极低，通过精巧的设计，实现测试回路寄生低感，以满足SiC器件的测试；
• 兼容性高，通过匹配不同的设备配置、测试治具，可实现各类器件、电路的模块与模组测试；
• 人机界面友好，操作简单便捷。

产品界面 / 图片
（页面提供多处演示图片占位，实际页面为产品图示与界面截图）

特性适用范围
适用于碳化硅（SiC）器件动态特性测试实验室，用于器件参数验证与研发展示。

特性 / 技术规格（概要）

• 型号：MX710D 系列；
• 适用器件：SiC（碳化硅）功率器件；
• 系统组成：可编程直流电源、治具单元、测量控制单元、驱动控制单元、保护单元及配套测试仪器；
• 支持测试类型：开启特性、关断特性、二极管反向恢复特性、短路特性，支持单脉冲与双脉冲测试；
• 保护功能：具备过流保护并快速关断回路；
• 设计要求：低寄生电感以满足SiC器件高速开关测试；
• 软件：配套公司自主开发的系统测试软件与人机界面。