老化测试系统 MX300R

未指定现场高电压

产品简介
MX300R系列高温电压应力老化测试系统为高温反向偏压电压应力老化测试设备，集成加热单元、温控单元、高/低压源及控制与数据采集单元。用于在高温条件下对IGBT、SiC、MOSFET、二极管等功率器件进行电压应力老化测试，以评估器件的可靠性。

产品特点

• 测试精度高：根据实际漏电流自动选择电流量程分档，保证测量精度；
• 实时监控与记录：持续采集测试温度、每通道电压与漏电流，并绘制完整变化曲线；
• 独立高压击穿保护：每工位配备串联保护器件，防止器件失效导致测试板损坏；
• 器件兼容性强：兼容Si/SiC/GaN等功率器件，支持单管与模块封装（IGBT、MOSFET、DIODE）。

特性 / 技术规格

• 型号：MX300R
• 测试类型：高温电压应力老化测试（反向偏压）
• 主要组成：加热单元、温控单元、高/低压源、控制与采集单元
• 适用器件：IGBT、SiC、MOSFET、DIODE（兼容单管与模块封装）
• 保护功能：独立高压击穿保护与每工位串联保护器件
• 数据采集：实时监控温度、每通道电压与漏电流并记录完整变化曲线
• 测量精度：电流量程根据实际漏电流自动分档以保证精度
• 备注：页面未提供EAN、价格与完整文本形式的详细参数表（部分规格以图片形式展示）