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... 产品概述
Hatina WLBI 是为晶圆上功率器件设计的晶圆级 Burn-In（WLBI）与 HTOL 解决方案。紧凑型测试腔体（概述尺寸 560×560×550 mm；规格表 D×W×H 为 560×560×560 mm）可连接至标准晶圆探针台，实现整片晶圆的老化测试并具备高并行吞吐量。每个 DUT 嵌入加热器，以实现精确、低功耗的局部热控（无烤箱策略），从而降低能耗和占地并简化自动化集成。
主要优势
- 适用于功率技术：Si、SiC、GaN
- 兼容
... LQ-BI114 是专为 COC 设备老化测试而开发的设备。 设备主体采用框架结构，载体采用可分离的 "抽屉 "形式，每个抽屉可独立控制温度。 载体采用标准的快插式电气接口，可根据不同的产品进行设计，不同的载体可在同一测试平台上进行测试。 技术参数 EML COC&DFB COC LD 芯片类型 ACC LIV 测试功能 可根据具体工艺进行设置 老化测试时间 ...
... ISO 16750-3 温湿度组合振动试验系统模拟在温度、湿度和振动条件下测试材料或产品的性能。它广泛应用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电气、电子产品、各类电子 SAP 零件在温度、湿度、振动环境下的各项性能指标测试。 使用温湿度组合振动试验系统对试件进行试验时，振动（正弦或随机）、温度（高温或低温）、湿度和电应力按规定的周期组合施加在试件上。它真实地反映了试件在运输和使用过程中的环境条件。 ISO 16750-3 温湿度组合振动试验系统与相应的振动试验台相配套，可满足相应的温度、湿度和振动环境试验要求；广泛应用于航空航天、船舶、电子、汽车、电信、工业等领域。 环境振动激振器组合试验箱的特点： 1.试验箱和制冷系统的组合结构，设计紧凑美观； 独立控制台 2.原装制冷压缩机组及主要配件均为国内知名品牌； 3.LCD ...
... 产品简介
MX300R系列高温电压应力老化测试系统为高温反向偏压电压应力老化测试设备，集成加热单元、温控单元、高/低压源及控制与数据采集单元。用于在高温条件下对IGBT、SiC、MOSFET、二极管等功率器件进行电压应力老化测试，以评估器件的可靠性。
产品特点
- 测试精度高：根据实际漏电流自动选择电流量程分档，保证测量精度；
- 实时监控与记录：持续采集测试温度、每通道电压与漏电流，并绘制完整变化曲线；
- 独立高压击穿保护：每工位配备串联保护器件，防止器件失效导致测试板损坏；
- 器件兼容性强：兼容Si/SiC/GaN等功率器件，支持单管与模块封装（IGBT、MOSFET、DIODE）。
特性 ...
... 功能 高温环境下检测电压、电流、图像黑屏、帧率。 特点 配置有专业模组点亮系统与测试软件； 支持温度曲线实时显示，超温报警； 独立6仓设计，可独立控温，产品独立上电； 可根据客户需求定制高低温箱，或特殊客制化检测项目； 支持高清Fakra接口，HSD接口及标清CVBS接口机种测试需求。 应用 兼容性好，适用于汽车、运动相机、无人机、智能家居、安防等多种摄像头模组类型 ...