老化测试系统 LQ-BI114
实验室紧凑型自动

老化测试系统 - LQ-BI114 - Suzhou Lieqi Intelligent Equipment Co., Ltd. - 实验室 / 紧凑型 / 自动

老化测试系统 - LQ-BI114 - Suzhou Lieqi Intelligent Equipment Co., Ltd. - 实验室 / 紧凑型 / 自动 - 图像 - 2

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产品规格型号

测试类型: 老化
应用领域: 实验室
形状: 紧凑型
其他特性: 自动

产品介绍

LQ-BI114 是专为 COC 设备老化测试而开发的设备。设备主体采用框架结构，载体采用可分离的 "抽屉 "形式，每个抽屉可独立控制温度。载体采用标准的快插式电气接口，可根据不同的产品进行设计，不同的载体可在同一测试平台上进行测试。技术参数 EML COC&DFB COC LD 芯片类型 ACC LIV 测试功能可根据具体工艺进行设置老化测试时间

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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)