温度试验机 HS-LDTS2000

质量性能自动

HS-LDTS2000 是一款用于光电生产企业的 LD 芯片光电性能检测设备，支持常温和高温条件下的芯片测试。该设备自动化程度高，具备智能图像算法、AOI 外观检测与 OCR 字符识别功能，旨在提升测试效率和产品质量控制。

应用领域：

• 光电子领域
• 功率器件领域
• 微波射频器件领域
• 新能源汽车领域

主要功能与特点：

• 可在常温与高温条件下测试长波长激光器芯片的前光、背光的 LIV 参数及光谱参数
• 支持正面及端面 AOI 外观检测与 OCR 字符识别，便于追溯与自动化分拣
• 高自动化与智能图像算法，支持复检功能以保证稳定的产品质量
• 自研温控台，温控精度高，适配常温与高温测试需求
• 支持多种供料方式（2" GEL-PAK、6" WAFER RING），并配有旋转工作台实现分工位同步作业以提高效率

特征 / 技术规格：

• 测试能力：测试长波长激光器芯片常温/高温条件下的前光、背光 LIV 参数与光谱参数
• 测试方法 / 工艺：LD 芯片光电性能检测（光电特性 & 光谱测量）
• 产品范围：LD 芯片
• 芯片尺寸范围：最小 0.15 x 0.2 mm；最大 10.0 x 10.0 mm
• 设备效率：约 4.5–6 S/PCS（视具体测试应用而定）