加速老化测试系统

普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光 器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。 产品特点 ● 单抽屉最多支持16路，最多8抽屉 ● ...

温度湿度光照压力试验箱升、降温速率: 1.升温（RT）25℃150℃大约需要40分钟左右（平均3.0℃/分钟） 2.降温（RT）25℃0℃大约需要25分钟左右（平均1.0℃/分钟） 温度湿度光照压力试验箱机器精度: 1.解析精度：温度:0.1℃；光照：0.1LUX；湿度:0.1%；压力：0.1KPA 2.控制精度：温度:±0.5℃；湿度:±2.5%RH；光照：±20LUX；压力：环境压力 分布均匀度：温度：±3.0℃；湿度：±3.5%（80%以上）±5.0%（80%以下）；光照：±15%LUX；压力：环境压力 温度湿度光照压力试验箱机械板金结构: 1.高质感外观，表面经雾面条纹处理，并采用平面把手,操作容易，安全可靠. 2.内箱材质:SUS#304耐热耐寒不锈钢板,经镜面处理。 3.外箱材质:SUS#304不鏽鋼板或者是烤漆。 4.保温材质:进口高强度防火PU发泡绝缘材料即聚氨酯. 5.防汗机件:以系统Ｋ型管之热能及薄膜式电热线作为防汗处理. 6.通电测试孔:机体左侧50mm孔一只,塞头一个,供连接外加电源线或信号线.

led冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在*短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。 led冷热冲击试验箱制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。*后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。