电阻率测试系统 DXHCR1100

工艺流程用于半导体燃料电池

产品概述
Dexinmag设备基于塞贝克、珀耳帖、汤姆孙等热电效应，可在室温（RT）至1500°C范围内同时测量塞贝克系数与电阻率。热电势（塞贝克系数）以V/K表示，随温度变化。DXHCR1100平台支持受控气氛与多种样品形状，适用于研发与质量控制场景。

应用领域

• 热电材料开发：测量半导体、skutterudite等热电材料的塞贝克系数与电导率；计算ZT并在高温（最高1500°C）或受控气氛（真空/还原/氧化）下评估性能。
• 电子与功能材料表征：研究半导体薄膜、导电高分子、金属氧化物的电输运特性；高温超导体与陶瓷基复合材料的电阻‑温度曲线测量。
• 能源材料与器件研究：锂离子电池电极与固体电解质的电阻率及界面接触特性分析；燃料电池催化剂在不同气氛下的导电性能测试。
• 工业质量控制与工艺优化：对合金、陶瓷、碳材料进行热电性能测试以指导烧结；在模拟工况下评估高温涂层与耐腐蚀材料的电学行为。
• 科研与标准化检测：适用于高校与科研机构开展热电效应基础研究及按标准（如ASTM E1225）进行认证测试。

测试功能

• 集成智能测量软件（Windows 10/11），支持自动激励、数据采集、实时处理与结果导出。
• 模板编辑与简化参数输入，便于重复测量流程。
• 实时测量与分析，最多比较32条测量曲线，支持曲线相减与叠加。
• 高级分析功能：曲线放大、一次/二次导数、多峰分析，并支持DSC、TG、TMA、DIL等辅助方法。
• 多点温度校准及焓变/热流Cp测量流程；支持ASCII导入/导出及生成MS Excel数据。
• 信号控制序列与长时间高温试验支持。

产品优势

• 宽温区与可控气氛：RT至800/1100/1500°C可选；兼容惰性、氧化、还原及真空环境。
• 高精度与多功能集成：塞贝克量程1–2500 μV/K（精度±7%，重复性±3%）；电导率0.01–2×10⁵ S/cm（精度±5–8%，再现性±3%）。测量方法：塞贝克为静态直流，电阻率为四探针法。
• 样品兼容性强：支持圆柱（φ6 mm×23 mm）、棱柱（2–5 mm 面宽×23 mm）与圆盘（10 / 12.7 / 25.4 mm）；探针间距可调4/6/8 mm，采用夹心夹持结构。
• 长期稳定性与高温连续测试能力：电源0–1 A，输出稳定；电极材料可选镍（−100–500°C）或铂（−100–1500°C）；配K/S/C型热电偶及闭环温控。

产品规格

• 型号：DXHCR1100
• 温度范围：RT至800/1100/1500°C（可配置）
• 测量原理：塞贝克 — 静态直流；电阻率 — 四探针法
• 适用气氛：惰性、氧化、还原、真空
• 样品夹具：两电极间夹心结构
• 支持样品尺寸：圆柱 φ6×23 mm；棱柱 2–5 mm × 23 mm；圆盘 10 / 12.7 / 25.4 mm
• 探针间距可调：4 / 6 / 8 mm
• 塞贝克测量范围：1–2500 μV/K（±7% 精度，±3% 重复性）
• 电导率测量范围：0.01–2×10⁵ S/cm（±5–8% 精度，±3% 再现性）
• 电源：0–1 A（输出稳定）
• 电极材料：镍（−100 至 500°C）／铂（−100 至 +1500°C）
• 热电偶：K / S / C 型

技术参数

• 型号：DXHCR1100
• 温度选项：RT–800/1100/1500°C
• Seebeck方法：静态直流
• 电阻率方法：四探针
• 兼容气氛：惰性、氧化、还原、真空
• 探针间距：4 / 6 / 8 mm
• 样品类型：圆柱、棱柱、圆盘（如上尺寸）