铁电测试系统 DX-FE2000

实验室高电压

概述
DEXINMAG DX-FE2000 铁电测试系统是一体化的表征平台，适用于铁电、压电与介电材料的表征测量。该系统将多种测试功能与高速采集整合于一台主机，并支持外接高压放大器以扩展测试范围。

测量功能：

• DHM – 动态滞回回线测量
• CVM – CV 测量
• LM – 漏电流测量
• FM – 疲劳测量
• PM – 脉冲测量
• PYM – 热释电测量
• DTS – 介电温度测量
• RT – 电阻测量
• PZM – 压电测量
• CHM – 静态滞回回线测量
• IM – 斑点测量
• RM – 保持性测量
• BDM – 击穿测试
• TSDC – 热激发电流测量
• ECM – 电卡测试
• POM – 油浴极化

仪器配置：
系统集成了专用工业计算机主机与测量电子设备，包括测试电路、运算放大器和数据处理单元。

• 主机配置：工业主板、i5 或更高 CPU、内存 ≥ 8 GB、SSD ≥ 250 GB、网卡、USB 接口、DVD 驱动、VGA 输出、预装 Windows 7 和 Dexinmag 测试软件。

校准与扩展：

• 校准模块：内置高精度电阻和电容测试模块，可进行自校准以提高精度。
• 设备扩展：兼容高/低温台、高温测试设备、探针台、高压放大器、高阻计、阻抗分析仪、激光干涉仪温控器、数字源表等。

可扩展部件 / 测试夹具：

• 块体测试夹具 — 用于厚膜、体相铁电材料和击穿测试。
• 薄膜四探针探针台 —（室温至200°C）用于厚膜铁电、压电（e31）和热释电测试。
• 薄膜宽温区热冷台 —（−196°C 至 +600°C）用于宽温区的铁电与热释电测试。
• 薄膜探针台 — 用于薄膜和厚膜的室温铁电测试。

高压放大器选项（散装材料）：

• DXAM-10KV：电压范围 ±10 kV；电流 0–20 mA；最大频率 5 kHz。
• Trek 609E-6：电压范围 ±4 kV；电流 0–20 mA；最大频率 6 kHz。
• Trek 610E：电压范围 ±10 kV；电流 0–2 mA；最大频率 600 Hz。

压电测试 / 激光干涉仪选件：

• SIOS 激光干涉仪 单通道光学探头 — 最小分辨率 0.3 nm；形变测试范围 100 nm – 2579.50 μm。

接口：

• USB Host 端口：Type A（鼠标/键盘/U 盘等）。
• USBTMC 接口：Type B（USBTMC/USB488/USB 2.0 TMC 兼容，可连接外部 PC）。
• LAN：10/100/1000 Base-T 以太网。
• 视频输出：15 针迷你 D-Sub（兼容 VGA）。

分析仪保护与注意事项：

• 击穿保护：测量电路耐压最大值 25 kV。使用外部 TREK 放大器时，请按供应商建议使用 Dexinmag 高压保护模块。

分析仪环境指标：

• 工作环境：温度 +5°C 至 +40°C；湿度（湿球温度 < +29°C）20%–80% 非冷凝；海拔 0–2,000 m；振动 ≤ 0.21 Grms（5–500 Hz）。
• 非工作环境：温度 −10°C 至 +60°C；湿度（湿球温度 < +40°C）20%–90% 非冷凝；海拔 0–4,572 m；振动 ≤ 2.09 Grms（5–500 Hz）。

特性 / 技术规格：

• 品牌：DEXINMAG (Dexinmag).
• 型号：DX-FE2000。
• 内置电压：±10 V（支持外接高压放大器）。
• 外部高压扩展选项：±20 V、±100 V、±200 V、±500 V、4 kV、10 kV、20 kV（需配合相应保护模块）。
• ADC 分辨率：18 位。
• 最小电荷分辨率：< 10 fC。
• 最小面积分辨率：< 1 μm²（按说明）。
• 报告的最大电荷范围：276 μC；27.6 mC（视量程而定）。
• 报告的最大面积范围：2.76 cm²；>100 cm²（视量程而定）。
• 滞回回线最大测试频率：示例中报告可达 500 kHz。
• 最小测试频率：0.03 Hz。
• 最小脉冲宽度：0.5 μs。
• 最小脉冲上升时间（5 V）：400 ns。
• 最大脉冲宽度：1 s。
• 脉冲间最大延时：40 ks。
• 内部时钟分辨率：25 ns。
• 最小漏电流（假定最大积分时间 20 s）：< 1 pA。
• 输入电容：约 60 fF。
• 输入阻抗：有。