介电质特性描述工具

概述

该介电测量系统为温度可控的阻抗/介电分析平台，适用于在宽温度和频率范围内对绝缘材料及功能材料进行电学表征。支持连续、高速测量，并可扩展为击穿测试和热刺激去极化电流（TSDC）等功能。

测量参数

• 温度范围：-185°C ~ 600°C
• 温度控制精度：±0.25°C
• 升温速率：最高10°C/min（可设置）
• 样品尺寸：φ < 25 mm，厚度 < 4 mm
• 电极材料：铂（Platinum）
• 夹具辅助材料：氮化铝陶瓷
• 测试频率：20 Hz – 10 MHz（系统配置可达30 MHz）
• 低温制冷：液氮
• 加热方式：直流电极加热
• 冷却方式：水冷
• 数据传输：RS-232
• 输入电压：110–220 V
• 设备尺寸：180 mm × 210 mm × 50 mm

功能特点

• 直流电极加热并配合滤波以消除电网谐波干扰，提升测量稳定性与准确性。
• 三电极测量法与阻抗匹配引线，减少引线阻抗及高温屏蔽限制带来的误差。
• 优化的样品温度测量及电极设计（如样品溅射导电涂层），以最小化寄生电容和空间效应。
• 系统架构可扩展，支持击穿测试和热刺激去极化电流（TSDC）等功能扩展。

操作软件

• 基于LabVIEW开发：稳定，支持断电数据保存和图像数据保存；兼容Windows XP、Windows 7与Windows 10。
• 多语言界面：支持中文与英文。
• 实时测试监控、状态图例/图标、用户权限管理与设备故障报警功能。
• 可定制测试报告，一键打印并导出为Excel与PDF；测量曲线与图像可保存。
• 软件兼容性：支持Keysight（E4990、E4991、E4980A）、Wayne Kerr（6500B、6530、4235）、Tonghui（2983、2838、2851）等阻抗分析仪。

测量参数与测试功能

• 介电温度谱与介电频率谱测量。
• 测量电学量：ε'（实部）与 ε''（虚部）介电常数；C' 与 C'' 电容实/虚部；损耗 D；R' 与 R'' 电阻实/虚部；Z（Z'、Z''）阻抗；Y（Y'、Y''）导纳；X 电抗；Q 品质因数；Cole‑Cole 图；电机耦合系数 Kp。
• 测量模式：可根据等效电路选择并联或串联模式。
• 测量频率：可通过软件配置。
• 数据与图像处理：测量数据、曲线与图像可导出并保存。

技术参数

• 温度范围：-185°C ~ 600°C
• 温度控制精度：±0.25°C
• 升温速率：最高10°C/min（可设置）
• 样品尺寸：φ < 25 mm；厚度 < 4 mm
• 电极材料：铂（Platinum）
• 夹具辅助材料：氮化铝陶瓷
• 加热方式：直流电极加热
• 低温制冷：液氮
• 冷却方式：水冷
• 测试频率（典型）：20 Hz – 10 MHz；可达30 MHz（视配置而定）
• 数据传输：RS-232
• 输入电压：110–220 V
• 设备尺寸：180 mm × 210 mm × 50 mm