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开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
... 世界上最先进的光散射仪器，用于对蛋白质、共轭物、大分子和纳米颗粒进行绝对表征。 DAW® HELEOS® II 是首屈一指的多角度静态光散射 (MALS) 探测器，用于对溶液中大分子和纳米颗粒的摩尔质量和尺寸进行绝对表征。 DAWN 提供最高的灵敏度、最广泛的分子量、大小和浓度，以及用于增强能力的多种配置和可选模块。 DAW 最常与凝胶渗透色谱（GPC-MALS）或尺寸排除色谱（SEC-MALS）或场流分馏法（FFF-MALS）结合使用，以确定质量、大小和成分的分布，而不依赖于参考标准柱校准。 ...
Wyatt Technology
... 吸油数据系统符合ASTM D2414 OAN和D3493 COAN（碳黑），ASTM D6854（二氧化硅），以及ISO 4656的规定。 DABS是一个吸油系统，用于表征炭黑和白炭黑的结构，以及其他粉末材料的吸油情况，也称为DPB吸油量、DBP数或DOP数。 记录完整混合曲线的数据处理最初由HITEC卢森堡公司开发，此后不断进一步扩展，以满足日益增长的性能要求。三阶多项式的曲线拟合是最初开发的结果，在ASTM D2414中被作为 "程序B "引入。 主要特点 设计紧凑，工作台占地面积小 ...
... 顶点单传感器测量离子能量分布作为高宽比撞击等离子反应器内表面的函数。 这款独特的等离子体表征仪器还可以测量离子能量、离子通量和偏置电压。 离子击中特征底部的角度可以通过离子能量分布作为纵横比函数来确定，用户可以在等离子反应器中特定位置监测蚀刻轮廓的质量。 顶点单传感器测量等离子体表面上的高宽比、离子能量、离子通量、负离子和 Vdc 等函数的离子能量分布。 Vertex Single Sensor 正越来越多地应用于工业和研究领域，如等离子体蚀刻、离子束和等离子体溅射，用于等离子体表征和等离子体相互作用分析。 ...
Impedans Ltd
... 拔出试验仪用于对金属构件进行拔出试验，这些构件可在混凝土浇筑前或浇筑后嵌入，以确定材料的机械强度。拔出试验的原理是利用专门嵌入孔中的金属螺栓锚固件，从待测材料中取出部分样本。 因此，拔出试验被归类为“半破坏性”试验。试验通过将试验螺栓连接至液压千斤顶进行，当千斤顶加压时，螺栓会被拉出。 通过分析压力表测得的力值，并将其与相关曲线或其他调查数据进行对比，从而确定材料的强度。根据客户要求，可针对不同类型的测试锚栓生产相应的拔出试验系统。拔出试验套件采用高品质、高强度的材料制成，以确保其在恶劣的工作环境中也能正常使用。 ...
... 概述
该介电测量系统为温度可控的阻抗/介电分析平台，适用于在宽温度和频率范围内对绝缘材料及功能材料进行电学表征。支持连续、高速测量，并可扩展为击穿测试和热刺激去极化电流（TSDC）等功能。
测量参数
- 温度范围：-185°C ~ 600°C
- 温度控制精度：±0.25°C
- 升温速率：最高10°C/min（可设置）
- 样品尺寸：φ
... 金属电子逸出功测试仪测量加热金属阴极的热电子发射，并采用理查森线性法确定金属的电子逸出功。该装置用于研究阴极材料的热电子发射特性及其表面的物理属性。
仪器组成：
仪器由一台实验装置和安装在顶部的金属二极管组成。
特点：
- 一体化设计，免去复杂布线。
- 二极管由透明外罩保护，抗损伤性能良好。
实验详情：
采用理想二极管测量金属钨的电子逸出功。
实验目标：
- 理解热电子发射的基本原理并掌握一种测量逸出功的方法。
- 采用理查森线性法确定金属钨的电子逸出功。
- 学习数据处理技术。
规格 ...
... 紧凑、经济、灵活。 最先进的传感器系统级测试，适用于开发和实验室环境。 S-TEST/2 台式设备 设计紧凑，功能丰富。 尽管设计紧凑，但 SPEKTRA 的 S-TEST/2 台式设备提供完整的测试界面，使传感器开发人员在产品开发阶段就能灵活应对不同的技术要求，同时不断检查产品的正确功能和性能。 传感器激励 在市场上处于领先地位。 与加速度或压力等不同的激励相结合，传感器可在测试实验室和开发过程中在几乎真实的现场条件下进行测试。由于与 S-TEST 实验室系统完全兼容，因此可以在开发阶段就为量产准备好测试程序，从而缩短产品上市时间。 组件 众多组件--真正的系统解决方案。 可灵活配置的系统组件可轻松快速应对不同的测试要求和传感器类型。参数测试、功能测试、测量值调整和传感器时间行为测试为开发人员提供了多种选择，以便在早期阶段识别设计中的错误。在实验室中进行早期测试还有助于缩短日后量产测试的实施时间。使用 ...