冲击电压测试系统 PST6747Ai series

用于研究开发实验室用于OEM

产品概述
PST6747Ai 系列为半导体测试系统，用于精确测量与分析功率半导体器件的静态参数。标配支持 3 kV（可选 10 kV）与 2200 A，支持快速脉冲操作与 fA 级电流检测，可用于 IGBT、GaN、SiC 等现代器件的表征。

型号

• PST6747Ai：高精度，面向研发；测试报告包含详细的特性曲线与参数。
• PST6747Ai-F：高精度，适用于出厂交付前的产品测试；报告可用于用户手册。
• PST6747Ai-L：标准精度，适用于来料/供应商测试；报告与厂商报告相似，便于对比。

模块化设计与硬件
该系列采用模块化设计，配备独立的高精度电源模块，例如 P6701B（3 kV 高压高精度源）、P6703B（高精度源）和 P6705A（2200 A 大电流源）。每个电源模块配备两个独立 AD 转换器，采样率为 2 µs。各模块驱动可独立精确控制，关键时序可精确监测以捕捉受时序影响的特性。

软件与数据管理
随附软件简化测量控制与数据管理，可根据用户需求定制，支持导出详细报告与测量日志。

应用
用于功率半导体器件及电力电路元件的静态参数测量。典型场景：研发特性分析、工厂出货前产品测试、以及供应商/材料比较测试（适用于 IGBT、GaN、SiC 等）。

技术规格

• 测量电压：标配最高 3 kV（10 kV 可选）。
• 测量电流：最高 2200 A。
• 支持快速脉冲测试与 fA 级电流检测能力。
• 宽电压与电流测量范围，适配现代功率器件。
• 模块化设计，具备独立高精度电源模块（示例：P6701B、P6703B、P6705A）。
• 每个电源模块配备两个独立 AD 转换器，采样率 2 µs。
• 模块独立且精确的驱动控制；精确的时序监控。
• 系列包含三种型号：PST6747Ai、PST6747Ai-F、PST6747Ai-L（按精度与应用目标区分）。
• 可定制的软件用于测量控制与数据管理。
• 适用于 IGBT、GaN、SiC 等新型功率半导体的测试。