SE-PCT01 离线 PCB X 射线检测微焦 CT 系统利用了碳纳米管 CT 管高分辨率脉冲发射和高亮度的特点。
是一种用于发现电路板隐藏缺陷的质量监控方法。
SE-PCT01 离线电路板 X 射线检测微焦 CT 系统利用碳纳米管 CT 管高分辨率脉冲发射和高亮度的特点,采用基于压缩传感的迭代 CT 重建算法。可在短时间内建立包括样品三维成像在内的多层断层图像,快速准确地对样品进行建模、分析和检测。
X 射线源
- 工作电压:90~150 KV
- 聚焦尺寸:3~15 μm(可选)
- 工作电流:10~ 150 μA
- 光管类型:封闭管
一般规格
- 类型: 数字平板数字平板
- 像素尺寸: 49.5 μm(可选)
- 像素数:2304 x 2940(可选)
- 图像面积: 114 x 146 毫米(可选114 x 146 毫米(可选)
- 灰度14/16 位
- 系统分辨率:2.5 微米
- 标准尺寸1325 x 1010 x 1650 毫米
- 整机重量:800 千克
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