... 检测技术 — 测量系统和测试设备 — 重要的 是在所有分支机构检测技术具有特殊的作用，在所有分支机构都很重要，是复杂的，对于质量控制和保障过程绝对必要。 每个产品都有单独的测试值和标准。 这里的技术要求很高。 SIM 自动化有限公司提供符合我们 SIM 理念的客户特定测量和测试设备。 我们的产品组合范围从手动装配的单一测量系统到使用机器人的完全集成的全自动化测试设备。 天空是极限，当涉及到检查。 无论是光学系统、声学系统还是电气系统，无论是否有部件接触，还是最先进的数据准备和分析，SIM ...
... Evolution 测量系统是世界上独一无二的同类产品，代表了未来工程领域的电子系统。它诞生于校准机的基本原理，具有巨大的发展潜力和未来应用前景。我们最近增加了一项功能，可以测量安装了机械装置的车辆外部面板（车轮在地板上！）。得益于其复杂先进的软件和硬件，它可以保证最高的测量精度（在 5.4 米的长度范围内 +/- 0.5 毫米）。 主要特点 - 轻型测量臂：2.7 米，总半径 5.4 米 - 铝和碳纤维结构 - 5 轴运动 - 蓝牙通信 - 引导和通话系统 - 内置电池，无需电缆 - 移动式伸缩三脚架，高度可调 - ...
... 是一个台式的入门级X射线检查系统。这个紧凑的X射线检查系统可以直接放在桌子上，以便在小型工厂或办公室的任何地方使用它。 而且，你可以通过提高或降低探测器的位置来调整样品的几何放大率。 舞台的尺寸，通过运动拍摄范围 精密μB3200 "是拍摄小型电路板和小型元件图像的理想选择。例如，显示器图像最大放大倍数为125倍，检测区域为2.5×2.8mm，适用拍摄范围为150×200mm。 要点 采用精巧制作的高电压电源 新的设计使其寿命更长 短暂的FOD 为了安全 我们提供的X射线泄漏测量是从每台设备的所有方向进行的，以确认其在交付前小于1μSv/hr。 X射线屏蔽技术 为了确保安全和可靠的安装，我们精心设计了辐射屏蔽。 一般来说，用于屏蔽的铅是一种柔软且容易变形的材料，但通过采用与钢板相结合的多层结构，可以在铅不变形的情况下长期使用。 正是这种极低的水平，对日常生活中的使用没有影响。 ...
... FRT MicroProf DI光学检测工具，可以在整个生产过程中对结构化和非结构化的晶圆进行检测。通过结合二维检测和计量，MicroProf DI为各种应用提供了测量解决方案，包括缺陷检测和晶圆级计量的微凸点、RDL、覆盖和通硅孔（TSV）的单一测量工具。 MicroProf DI包括几个模块，可以在同一个工具平台上灵活地组合，以高产量覆盖所有晶圆表面，实现高效的工艺控制。这些模块包括通过单镜头和步进相机模块进行光学检测和缺陷分类，通过高精度显微镜审查缺陷，以及通过不同的形貌和层厚传感器进行全面的多传感器计量。为了对晶圆中的隐藏结构和夹杂物进行光学、非接触和非破坏性的分析，还可以使用带有红外光源的干涉式层厚传感器和红外显微镜。 ...