概述该晶圆曝光系统(Mask Aligner)采用为高精度曝光优化的原装UV光学系统及能够实现光罩与晶圆高精度平行化的机械结构。全自动曝光系统支持三种间隙控制模式:Vacuum contact、Soft Contact 和 Proximity Gap。
应用- 功率器件
- CMOS背面处理
- MEMS 制造
- LED 生产
- 陶瓷基板
主要规格- 类型:全自动(适用于2–12英寸或方形晶圆)
- 光学系统:为高精度曝光优化的原装UV光学系统
- 间隙控制模式:Vacuum contact;Soft Contact;Proximity Gap
- 可用晶圆尺寸:12英寸;6–8英寸;4–6英寸;2–4英寸;方形
- 上料方式:Cassette to Cassette;Foup Load
- 对准方向:正面;背面(可选)
- 对准精度:正面 ±0.8 μm或更好;背面 ±1 μm或更好
运行要点- 光罩与晶圆之间的高精度平行对准,确保图形再现性
- 灵活的间隙控制以适应接触式和近距式工艺
- 兼容标准Cassette与FOUP流程,便于洁净室集成