晶体管轮廓测试座 GD26-QDPAK-x-S151X155

QDPAK 封装测试插座 - 最大限度提高 SiC/GaN MOSFET 性能的测试插座 - 与 THB 和 HTRB 可靠性测试兼容 - 内部高性能触点确保在恶劣条件下的稳定性 - 开尔文连接（可选）可实现快速切换和精确评估 触点电阻：最大 50mΩ 额定电流：25°C 时 12A（漏极和源极之间） 耐电压：25°C 时 DC2000V 1 分钟 绝缘电阻：DC500V 时 500MΩmin 工作温度：-40 至 +200°C（包括电流引起的温升） 兼容：AIMCQ120R020M1T、AIMDQ75R016M1H 等。