MICRO-EPSILON/米铱精准测厚仪

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激光测厚仪
激光测厚仪
thicknessGAUGE C.LL

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象,最好用于普通表面的厚度测量,如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产,以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

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MICRO-EPSILON/米铱
金属测厚仪
金属测厚仪
capaNCDT DTV

测量范围: 1.5 mm - 3 mm
测量精度: 3 µm - 6 µm
测量频率: 20 Hz - 5,000 Hz

... 产品概述
capaNCDT DTV 系统采用电容式位移传感器进行非接触制动盘厚度偏差(DTV)测量。系统支持旋转制动盘的同步多轨测量,可用于试验台/车载测试,并提供便携 DTV 测量箱用于现场质量检测和保修检查。

主要应用

  • 试验台质量控制
  • 车载道路测试与研发
  • 维修车间检查与保修核查
  • 制动系统的开发与耐久性测试

传感器方案(CSH1,4FL)
CSH1,4FL ...

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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
capaNCDT TFG6220

测量精度: 0.2 µm
测量频率: 100 Hz
分辨率: 10 nm

... 产品概述
TFG6220 电容式系统用于高精度测量导电薄膜(例如电池薄膜)的厚度。外部真空装置将样品吸附并拉平,以提供无皱的参考面。系统为预装配设计,适用于离线随机抽样的质量检验,便于快速部署使用。

测量功能

  • 通过真空平整薄膜以消除褶皱并确保可重复的定位
  • 测量支架配备上下两只电容传感器及集成测量插件以便于参考定位
  • 通过 sensorTOOL(网页界面)进行数据采集与可视化

应用
适用于导电薄膜厚度的离线快速检测,用于质量控制和工艺监测,例如电池薄膜。

特性 ...

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MICRO-EPSILON/米铱
板测厚仪
板测厚仪
thicknessGAUGE 3D

测量范围: 15 mm
测量精度: 1.2 µm
测量频率: 500 Hz

... 概述
thicknessGAUGE 3D 是一款用于带材和板材的在线轮廓评估及 3D 厚度测量的传感器系统。系统在刚性框架上安装两台红光激光轮廓传感器,采集上、下表面轮廓并生成单独轮廓以及组合的 3D 点云,以便自动化分析。

应用
用于涂层边缘、焊缝、线材轮廓的在线测量及生产线上的厚度监控。

主要特性

  • 传感器类型:激光轮廓传感器(红光激光)
  • 同时采集上、下表面轮廓
  • 在线
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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessGAUGE O.IMS

测量精度: 0.2 µm - 0.2 µm
测量宽度: 0 mm - 1,250 mm

... 概述
thicknessGAUGE O.IMS 是用于隔膜涂层及电池涂层在线厚度测量的紧凑型传感器系统。该系统采用紧凑 O 型框架设计,使用穿透薄膜的白光干涉仪实现单侧非接触测量。两个传送滚轮用于稳定薄膜以保证测量可靠性。

测量模式与适用性
系统可在横向扫描(traversing)或定轨测量(例如中心线或边缘厚度)模式下运行。适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜,可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。

软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元(含电机控制)、紧凑型总线端子盒、自动校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC ...

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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessCONTROL BTG 8702 C.C

测量范围: 3.6 mm - 7 mm
测量精度: 0.3 µm - 0.5 µm
测量宽度: 0 mm - 800 mm

... 概述
Micro-Epsilon 提供多种用于涂布线的厚度测量系统,可满足不同的需求与应用场景。thicknessCONTROL C 型支架专为干涂层等苛刻环境设计。其坚固的框架和集成温度补偿可在较高环境温度下仍保证高测量精度。系统可根据应用定制,支持不同薄膜宽度并最多扩展至 8 条测量通道。

主要特点

  • 用于涂覆阳极/阴极薄膜的高精度厚度测量系统
  • 传感器技术:光谱共焦(confocal)传感器
  • 适用于干涂层过程的厚度测量与控制
  • 坚固设计,具有集成温度补偿
  • 厚度测量范围起始约
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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessGAUGE C.C

测量范围: 2.5 mm
测量精度: 0.4 µm
测量频率: 1 Hz - 10,000 Hz

... 概述
thicknessGAUGE 传感器系统用于在线测量带材的厚度。针对具有不同表面特性的薄膜厚度测量,提供多种型号,具有不同的传感器类型、测量范围和测量宽度。该系统采用两个距离传感器,可高精度检测带材厚度。传感器相互精确对准并已在出厂时校准。通过线性轴可移动 thicknessGAUGE 传感器系统,以测量整个带材宽度上的厚度。其极其紧凑的结构便于在狭小的安装空间内集成。

使用与变体
thicknessGAUGE 可用于固定轨测量,例如中心线(中心厚度)或边缘厚度测量。作为替代,传感器系统也可用于横向(traverse)厚度测量。由于其多功能性,thicknessGAUGE ...

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