滚筒测厚仪

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膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessGAUGE O.IMS

测量精度: 0.2 µm - 0.2 µm
测量宽度: 0 mm - 1,250 mm

... 概述
thicknessGAUGE O.IMS 是用于隔膜涂层及电池涂层在线厚度测量的紧凑型传感器系统。该系统采用紧凑 O 型框架设计,使用穿透薄膜的白光干涉仪实现单侧非接触测量。两个传送滚轮用于稳定薄膜以保证测量可靠性。

测量模式与适用性
系统可在横向扫描(traversing)或定轨测量(例如中心线或边缘厚度)模式下运行。适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜,可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。

软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元(含电机控制)、紧凑型总线端子盒、自动校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC ...

便携式测厚仪
便携式测厚仪
SHAHE/5335-10 0-10mm 0.001mm±0.009mm/Digital Thickness Gauge

测量范围: 0 mm - 10 mm

膜测厚仪
膜测厚仪
GPA EVO II

测量范围: 0 µm - 300 µm
测量精度: 0.2 µm
测量宽度: 100 mm

... 产品描述
TSM 厚度剖面测量系统(GPA EVO II)是一款面向吹塑和浇铸薄膜制造商的离线实验室级薄膜厚度剖面分析仪。该系统结合了非接触电容式和千分表式传感器、自动校准功能以及集成的 GPA-Win 软件,可在整个薄膜剖面上提供微米级的可重复测量。适用于质量控制、实验室测试和工艺验证,支持独立的厚度核查以保障生产控制并满足 ISO/DIN 合规要求。

主要特点

  • 测量类型:用于吹塑和浇铸薄膜的离线厚度剖面测量
  • 测量精度:±0.2
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