AMOT轮廓测量仪

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Nexview™ NX2

... Nexview™ NX2 三维光学 轮廓仪专为最苛刻的应用而设计,集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身,是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉 测量(CSI) 轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地 测量更多的表面类型,优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛,可以 测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等,是一款名副其实的 轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品,Nexview™ ...

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
ZeGage™ Pro

... Smart Setup,用于简化零件设置和优化 测量测量各种表面和零件从未如此简单,快速而轻松。 阅读更多内容,了解ZeGage™ Pro系统的功能、多样性和价值如何使您受益。 - 专有的非接触式 测量技术通过SureScan™技术得到加强,对振动的敏感度低,易于放置在您设施的任何地方。 - 具有纳米级精度的定量表面 测量提供了卓越的量具能力。 - 高分辨率的190万像素图像传感器在几秒钟内提供快速的面积 测量,以获得出色的表面细节和视觉效果。 - ...

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
NewView™ 9000

... NewView™ 9000 三维光学表面 轮廓仪在非接触式光学表面 轮廓 测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地 测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的 测量都是无损、快速的,并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉 测量技术(CSI),它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用技术更快、更精确地 测量更多的表面类型,可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ...

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3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
APM650

... ZYGO® 的 APM650™ 封裝計量系統是一種新的檢測工具,專為基於面板的 PCB 和其他現代封裝應用的自動 測量而設計。它為多個表面特徵提供 2D 和 3D 測量,具有亞納米垂直精度和亞微米橫向精度 APM650™ 系統的核心是相干掃描干涉儀 (CSI) 測量技術。 這種非接觸式技術具有高精度和高價值的表面計量優勢,包括: - 亞納米 測量精度與場放大無關 - ...

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Nexview™ LS650

... Nexview™ 650计量系统是一种检测工具,用于自动 测量注塑模具、PCB、玻璃面板和其他需要扩展工作体积的样品,最大尺寸为650 x 650 mm。它提供各种表面特征的二维和三维 测量,具有亚纳米的垂直精度和亚微米的横向精度。 强大的性能 相干扫描干涉仪(CSI)是Nexview™ 650系统的核心 测量技术。 这种非接触式技术提供了高精度和高价值的表面计量优势,包括。 - 测量几乎所有类型的表面,从粗糙到超光滑,包括薄膜、陡坡和大台阶。 - ...

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
IF-Profiler

... 如何 测量粗糙度和表面光洁度 IF 轮廓仪是一种手持式 3D 粗糙度 测量系统,用于高分辨率 测量表面光洁度。 用户 仅用一个系统 测量扁平和弯曲部件的粗糙度。 测量基于剖面(ISO 4287)和基于区域(ISO 25178)进行。 轻量级的 IF-Profiler 由三维 测量传感器和坚固耐用的框架组成。 ...

粗糙度测量轮廓测量仪
粗糙度测量轮廓测量仪
MiniProfiler MP50

... 金属片 规格 MiniProfiler MP50 * 测量距离。50毫米 * 粗糙度和波浪度:250微米 - 2毫米 MiniProfiler MP50/75是一种无触觉的滑移 测量设备, 测量距离为50、70或75毫米。 它属于Breitmeier Messtechnik GmbH的MiniProfiler产品系列。自2001年以来,该公司一直在德国设计、开发和制造尖端的 测量设备和系统。 我们的MiniProfiler产品系列可广泛用于需要 测量技术表面的应用,如轴、轴和活塞上的凹槽、凸轮轴、通风密封唇 ...

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Breitmeier Messtechnik
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
WLICyl

... 白光干涉仪/WLI探头用于实验室和车间的质量控制。 * 缸孔 * 衬垫 规格 非接触式三维表面 轮廓仪 * 可与转接板或用于底架的可变三爪卡盘结合使用,60-150。 WUCyl是一种基于白光干涉原理的高精度光学 轮廓仪,设计用于后处理和统计过程控制。 测量头可以手动移动,也可以通过在软件中输入坐标。 基架60-150的转接板或可变三爪卡盘确保了WUCyl在被测物上的定位参考,以便重复 测量。无限的 测量程序可以被保存和自动化。这种设计允许在进行摩擦学测试前后,在完全相同的位置进行比较。 WUCyl ...

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