平面度测量轮廓测量仪

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光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Talysurf® PGI Freeform

... 用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪 泰勒•霍普森 的 PGI Freeform(相位光栅干涉)是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪,用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。 灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统 全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统,适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。 能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析: •球面 •非球面 •衍射面 •自由曲面 PGI ...

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TAYLOR HOBSON
非接触式轮廓测量仪
非接触式轮廓测量仪
LUPHOScan 50 SL

... 超快的非接触式三维透镜轮廓测量仪 LUPHOScan SL 是大批量测量小透镜的理想选择,该系统的主要优势包括超快的测量速度及其测量透镜几何特征的能力。它可以测量光学表面和几何特征,如扣合面(坎合面)的圆度、平面镜片的平面度以及光学表面与这些特征的相对位置等。 世界上最快、最精确的非接触式3D手机镜头测量系统 LUPHOScan SL 适用于小透镜的大批量测量,主要优势包括超快的测量速度和透镜几何特征的测量能力。 设计和生产的独特优势 •超高重复精度 - 30 nm ...

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TAYLOR HOBSON
非接触式轮廓测量仪
非接触式轮廓测量仪
LUPHOScan 260/420 HD

... 用于测量非球面、自由曲面光学元件和透镜模具的非接触式三维形状/外形测量设备 LUPHOScan HD非接触式三维光学轮廓仪可对高偏差非球面和自由曲面等具有挑战性的表面的半径和不规则度进行最高精度的非接触式三维轮廓测量。LUPHOScan HD的稳定性是行业领先的,特别在一些严苛的环境下,也能保证对非球面和自由曲面进行超高精度地快速轮廓测量,新一代LUPHOScan HD三维轮廓仪是业界首款在高达 90°的采样斜率上精度优于 50 nm (3σ) 的仪器。 LUPHOScan HD 测量平台是一款基于多波长干涉技术 ...

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TAYLOR HOBSON
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
HRP®-260

... HRP-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪。HRP的性能经过生产验证,能够进行自动化晶圆装卸、可为半导体、化合物半导体、高亮度LED、数据存储和相关行业提供服务。P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的二维及三维测量,其扫描深度可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了能够对小特征进行高分辨率和高产量测量的高分辨率平台。 HRP-260的双平台功能可以进行纳米和微米表面形貌的测量。 P-260配置提供长扫描(最长200mm)的功能,无需图像拼接,HRP-260提供高分辨率扫描平台,扫描长度可达90μm。 ...

光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
TopMap Pro.Surf

... 大视野测量形状参数和三维地形图 TopMap Pro.Surf是用于大面积表面特征描述的光学三维表面轮廓仪--快速、高效。 Pro.Surf 是高端的非接触式轮廓仪,用于在生产过程中进行可靠的质量控制,无论是在线、在线或在实验室。 Pro.Surf 可测量平面度、台阶高度或平行度等,具有 44x33 毫米的大视野 (FoV),可提高测试效率。 白光干涉仪可扫描大面积的高度数据,从而一次性捕捉所有表面细节。 在 44 x 33 毫米的视场(FoV)上,几秒钟内就能捕捉超过 200 万个测量点。 ...

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Polytec
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
TopMap Micro.View+

... 以亚纳米分辨率分析形状和粗糙度、纹理、划痕和缺陷、微结构、微机电系统或半导体 Micro.View+ 是一款具有最高重复性和测量精度的表面轮廓仪。 用于纳米粗糙度和微结构的模块化光学轮廓仪 TopMap Micro.View+是Polytec公司的新一代光学表面测量技术。它采用模块化设计可根据您的表面检测任务进行各种配置无论是精密制造部件还是微系统的纹理、微结构、形状或粗糙度。Micro.View+ 专为测量和研究实验室而设计但通过集成纯传感器也适用于在线应用。 可视化三维形貌并使用彩色模式进行更有意义的可视化和区分例如表面缺陷或记录。可选配 ...

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Polytec
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
TopMap Micro.View

... 用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap系列白光干涉仪中的紧凑型表面轮廓仪,可对微观结构、纹理、光洁度和面积粗糙度参数(Sa、Sz...)进行可重复的高分辨率表面检测。 以亚纳米分辨率快速扫描表面! 。通过集成CST连续扫描技术,Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围,垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑,集成了电子元件,使用方便,例如,通过自动寻焦功能,在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + ...

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Polytec
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
SJ5720-OPT200

... SJ5720-OPT 系列在一次扫描后即可测量表面粗糙度和轮廓。此外,该系列还配有专门的软件模块,用于测量和分析大型非球面表面,因此是光学镜片行业理想的测量解决方案。 它还可用于大型曲面的轮廓和粗糙度测量,如轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片等。因此,它被广泛应用于精密加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。 特点 1.一次扫描后同时评估轮廓和粗糙度参数 2.高精度、高稳定性和高重复性 3.非球面光学软件模块 4.智能管理和先进的软件分析系统 5.扫描过程中的智能保护系统 6.灵活的手动控制 7.高稳定性隔振系统 ...

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Chotest Technology Inc.
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
SuperView W1

...   SuperView W1光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。  SuperView W1光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1)系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换; 2)测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI); 3)多区域自动分析:自动获取图案化形貌区域的三维信息(高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等),同时具有自动统计分析功能。 4)具备各种类型样品表面微观形貌的3D轮廓重建与测量功能; 5)具备表面粗糙度和微观轮廓的检测功能,粗糙度范围涵盖0.1nm到数十微米的级别; 6)具备校平、去除形状、去噪、滤波等数据处理功能; 7)具备粗糙度分析、轮廓分析、结构分析、功能分析等表面参数分析功能; 8)具备自动对焦、自动测量、自动多区域测量、自动拼接测量等自动化功能; 9)具备一键分析、多文件分析等快速、批量分析功能; 10)具备word、excel等数据报表导出功能。 三、应用领域   对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例: 四、性能特色 1.高精度、高重复性 1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高; 2)独特的隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得极高的测量重复性。 2.一体化操作的测量分析软件 1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能; 2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程; 3)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全; 4)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能; 5)可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。 3.精密操纵手柄   集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。 ...

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Chotest Technology Inc.
3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
SuperView W1-Pro

...   SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1.系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换; 2.测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI) 3.多区域自动分析:自动获取图案化形貌区域的三维信息(高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等),同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件,操作无须进行切换界面,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能,其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。 8.分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能,其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能;几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能;结构分析包括孔洞体积和波谷深度等;频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能;功能分析包括SK参数和体积参数等功能。 9.分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能,设置分析模板,结合测量中提供的自动测量和批量测量功能,可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。 三、应用领域   对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。 ...

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Chotest Technology Inc.
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
Nexview™ NX2

... Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计,集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身,是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量(CSI)轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型,优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛,可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等,是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品,Nexview™ NX2 ...

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Zygo
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
ZeGage™ Pro

... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征,确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术,ZeGage Pro提供创新技术,以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术,用于振动稳健的计量,Part ...

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Zygo
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
NewView™ 9000

... NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的,并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术(CSI),它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型,可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO 的 NewView 产品的特点。NewView ...

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Zygo
光学轮廓测量仪
光学轮廓测量仪
NanoCam Sq

3D轮廓测量仪
3D轮廓测量仪
MC100

... 圆柱度测试仪 特点和优势。 1.可用双轴光栅计数 2.可提供多元素评估方法,以及模块化评估模式 3.自主开发可以协助对中和调平 4.可用换向器评估功能,可评估单片跳动、相邻片跳动和切断差。 5.多段式方法可更准确地测量圆柱度。 使用方法。 圆度、同轴度、同心度、平面度、径向单跳、轴向单跳、平行度、垂直度 测量范围:1-15upr, l-50upr, l-150upr,1-250upr,l-500upr。 1-250upr,l-500upr,15-100upr,15-500upr,2-15upr,customized ...

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