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... 用于表面粗糙度和轮廓测量的高分辨率测量系统 是众多汽车、轴承、齿轮等行业应用的理想选择。 完全可靠的测量和结果 购买测量设备意在确保制造的的零件达到最高标准。 测量完整性和可再现性是泰勒-霍普森引以为傲之处，通过跨产品系列进行相关性研究，以此对结果进行验证。 泰勒-霍普森仪器拥有世界最佳噪底，这是仪器完成准确测量的基础。 我们的产品设计建立在近百年的测量经验积累、超精密制造技术和FEA优化设计的基础之上。 这些优势实现了低噪声和近乎完美的测量轴机械运动。 为您的应用量身定制 从螺钉螺纹到曲轴、从气缸体到阀门导管，选择最适合您的配置满足您的应用需求。 温度补偿 作为所有i系列的标准配置，这个独特的系统能够监控和反馈环境温度的变化，确保在任何环境下，测量的稳定性和完整性能够得到充分发挥。 可重复测量的结果 拥有多年行业经验，超精密加工的专业知识以及 ...
... 将轮廓测量提升至新的层面 MarSurf CD 系列测量站站 在轮廓测试领域确立了新的标杆。更短 的测量时间、灵活的应用和 简单的操作意味着提高您的 质量保证效率。 提高测量和更换速度 • 高速测轴和测量可缩短 测量时间 • Z 轴全 CNC 功能，可自动运行 • 快速更换测头系统。 磁性接口，无需工具 – 无需重新校准 • 自动检测测杆，提高测量序列的速度 并避免测量错误 用途广泛且灵活 • 工件支板可以 固定大工件 • 大测量范围，适合各种应用 ...
... 大视野测量形状参数和三维地形图 TopMap Pro.Surf是用于大面积表面特征描述的光学三维表面轮廓仪--快速、高效。 Pro.Surf 是高端的非接触式轮廓仪，用于在生产过程中进行可靠的质量控制，无论是在线、在线或在实验室。 Pro.Surf 可测量平面度、台阶高度或平行度等，具有 44x33 毫米的大视野 (FoV)，可提高测试效率。 白光干涉仪可扫描大面积的高度数据，从而一次性捕捉所有表面细节。 在 44 x 33 毫米的视场（FoV）上，几秒钟内就能捕捉超过 200 万个测量点。 ...
Polytec
... 以亚纳米分辨率分析形状和粗糙度、纹理、划痕和缺陷、微结构、微机电系统或半导体 Micro.View+ 是一款具有最高重复性和测量精度的表面轮廓仪。 用于纳米粗糙度和微结构的模块化光学轮廓仪 TopMap Micro.View+是Polytec公司的新一代光学表面测量技术。它采用模块化设计可根据您的表面检测任务进行各种配置无论是精密制造部件还是微系统的纹理、微结构、形状或粗糙度。Micro.View+ 专为测量和研究实验室而设计但通过集成纯传感器也适用于在线应用。 可视化三维形貌并使用彩色模式进行更有意义的可视化和区分例如表面缺陷或记录。可选配 ...
Polytec
... 概述
基于 Micro.View 平台的紧凑型光学 3D 表面轮廓仪，用于非接触的粗糙度与表面形貌测量。作为从触针系统入门到光学面测技术的替代方案设计，适用于从哑光到高反射的零件，提供面域和轮廓粗糙度评估。
亮点
- 符合 ISO 的粗糙度评估：轮廓 R 参数与面域 S 参数
- 适用于实验室和质量控制的紧凑台式设计
- 可选自动电动 XY 工作台（Advanced 版本行程 75 mm）
- 提供升级与以旧换新选项
主要优势
- 提供完整的
Polytec
... 1.表面轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6)测量程序自动运行 2.SJ5701可以评估表面粗糙度。Ra, Rz, Rt, RS, RSm, Rp, Rv, Rq, Rt, Rmax, D, Rmr曲线, ...
Chotest Technology Inc.
... 纳米三维光学表面轮廓仪 SuperView W1 产品型号： SuperView W1/W1-Pro 产品名称：纳米 3D 光学表面轮廓仪 标准视场角(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台测量精度 0.3 % 平台测量重复性 0.08% 1σ SuperView W1 光学三维表面轮廓仪是对各种精密零件进行亚纳米级测量的理想仪器。它基于白光干涉技术原理，结合精密的 ...
Chotest Technology Inc.
... SJ5780-200 双向扫描轮廓测量仪是一款大范围、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。该仪器 X 轴、Z 轴采用独立运动系统，利用先进的双轴联动运动控制算法，可实现 X、Z 双轴联动扫描，测量测针在工件表面做仿形扫描（主动扫描），既保持了恒定的测量力，又保证了大量陡坡通过的能力，工件找平操作简单，同时避免了崩针、挂销等问题。它可以在很宽的满量程范围内连续扫描，并具有数百毫米的连续爬坡能力，非常适合测量各种陡坡，大型工件无需翻转或倾斜调整即可轻松测量。 ...
Chotest Technology Inc.
... Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ NX2 ...
Zygo
... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage Pro提供创新技术，以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术，用于振动稳健的计量，Part ...
Zygo
... NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO 的 NewView 产品的特点。NewView ...
Zygo
... Smart_Projector_Ruby 用于微小零件检测的影像轮廓测量仪 “This Smart_Projector_Ruby 是测量手表零件等微小零件的完美解决方案” 高精度高重复性 Smart_Projector_Ruby 是一款全自动轮廓检测仪，结合高精度、客观性、高重复性、友好操作界面等特点于一体，由意大利智测公司技术团队倾力打造。 结构紧凑，功能强大 使用独一无二的小视野，结合可以移动的X/Y轴，使得该仪器适合超高精度检测要求的零件检测，如手表零件，小型电子零件、微小机械零件的快速检测。 测量精确 无论是图像对焦中心或零件从一端移动到另一端，该仪器确保测量非常稳定。采用高精度的双反射光源，和高精度的光学镜头相接合，取保测量精确无误。 工业等级，结构紧凑 Smart_Projector_Ruby ...
... 测量和记录二维/三维表面轮廓参数的复制带阅读器 数字式弹簧测微仪使用Testex Press-O-Film™复制带测量并记录表面轮廓参数。 • 新的更大的2.8英寸抗冲击彩色触摸屏，重新设计的键盘用于快速菜单导航 • 通过在表面上烧制胶带来创建一个复制品，并插入仪器中。三维图像和二维/三维参数在几秒钟内就能显示出来! • 报告常用参数。Ra,Rq,Rz,Rp,Rv,Rt, Rpc(2D), andSa,Sq,Sz,Sp,Sv, andSpd(3D) • 适合现场或实验室使用；平坦的、弯曲的或不规则的表面 • ...
... 测量的不仅仅是体积 通过对产品进行快速三维数字化，可以自动计算固体产品的体积、密度和标准尺寸。附加测量包括表面积、高度、宽度、长度和重量等。然后可以对结果进行数学处理，以便立即使用或将来以各种数据格式进行检索。 快速准确 只需 22 秒，制造商就能获得有关产品的精确数据，以便控制和监测生产。 世界一流的数据分析软件 我们功能强大、特性丰富的软件是标准配置。最重要的是，在仪器的使用期内，我们还提供免费更新。了解更多 比过时的种子位移法更精确 传统上，烘焙产品的体积测量是通过种子位移技术来实现的，即测量标准容器中面包周围的油菜籽或薏米包装量。几十年来，这种方法一直被普遍认为是烘焙质量的指标，但现在却被认为是原始、不准确、繁琐和费力的。反复校准、操作人员的依赖性、油菜籽溢出/粘附在产品上或静电导致的油菜籽损失、吸湿导致的油菜籽结块、定期筛分油菜籽以去除食物碎屑、软产品可能被压碎以及手动记录结果，这些都是影响测量效率和准确性的常见缺点。 ...
... 轮廓仪（巴顿梳状仪） 用于测量岩石样本的粗糙度轮廓。 - 长度：150 (32-D0566/A) 或 300 (32-D0566) 毫米 - 高度：85 (32-D0566/A) 或 150 (32-D0566) 毫米 ...
测量范围: min 5.0 µm
... GelSight® Modulus™：对以前 无法进入的地方。 新型单反式设计，可更换光学镜组，为复杂几何形状带来无与伦比的测量能力。 GelSight® Modulus™ 可以在传统工具无法触及的地方进行快速、高分辨率的表面测量，提供客观、可重复的数据，以微米级的精度检测划痕、腐蚀和边缘磨损等缺陷。它是一种便携式、易于使用的系统，可将主观检测转化为可量化的决策，一键式报告可实现即时记录和可追溯性。 从航空航天到先进制造，Modulus 使工程师和质量团队能够直接在车间检测复杂的几何形状，而无需复制或基于实验室的工具。Modulus ...